所謂燒錄其實就是往里寫代碼或數(shù)據(jù),需要用特定的軟件、特定的硬件,數(shù)據(jù)格式一般也特定。在芯片燒錄的過程中,總會遇到大大小小、各種各樣的問題。那么,以下是網(wǎng)絡(luò)整理收集的一些收錄中最常發(fā)生的問題,工程師們看看有沒有遇到過類似的情況。
集成電路失效分析在提高集成電路的可靠性方面有著至關(guān)重要的作用,對集成電路進行失效分析可以促進企業(yè)糾正設(shè)計、實驗和生產(chǎn)過程中的問題,實施控制和改進措施,防止和減少同樣的失效模式和失效機理重復(fù)出現(xiàn),預(yù)防同類失效現(xiàn)象再次發(fā)生。本文主要講述集成電路失效分析的技術(shù)和步驟。
在電子元器件的研制階段,失效分析可糾正設(shè)計和研制中的錯誤,縮短研制周期;在電子元器件的生產(chǎn)、測試和使用階段,失效分析可找出電子元器件的失效原因和引起電子元器件失效的責(zé)任方。根據(jù)失效分析的結(jié)果,元器件生產(chǎn)廠改進元器件的設(shè)計和生產(chǎn)工藝,元器件使用方改進電路板設(shè)計,改進元器件或整機的測試、試驗條件及程序,甚至以此為根據(jù)更換不合格的元器件供貨商。因而,失效分析對加快電子元器件的研制速度,提高元器件和整機的成品率和可靠性有重要意義。
失效分析(FA)是一門發(fā)展中的新學(xué)科,近年來從軍工向普通企業(yè)普及。一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析驗證,模擬失效現(xiàn)象,找出失效原因,挖掘失效機制的活動。在提高產(chǎn)品質(zhì)量、技術(shù)開發(fā)、改進、產(chǎn)品修復(fù)、仲裁失效事故等方面具有很強的現(xiàn)實意義。其方法分為損傷分析、損傷分析、物理分析、化學(xué)分析等。
在進行失效分析之前,需要根據(jù)失效產(chǎn)品及其失效背景,縮小懷疑范圍,初步判斷產(chǎn)品可能的失效現(xiàn)象,選擇合適的分析技術(shù)與設(shè)備,遵循先簡單后復(fù)雜,從外到內(nèi),先面后點,從非破壞性到破壞性的原則,明確分析順序,制定有針對性的分析方案,降低失效分析成本,加快失效分析進度,提高失效分析成功率。對各種可能的原因準備相應(yīng)的處理措施。
不同類型材料失效分析檢測方法: 1 PCB/PCBA失效分析 PCB作為各種元器件的載體與電路信號傳輸?shù)臉屑~已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的最為重要而關(guān)鍵的部分,其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定了整機設(shè)備的質(zhì)量與可靠性。
一般把電子元器件的故障都稱謂失效,知曉元器件的失效模式和失效機理以及設(shè)備故障的機理對于診斷設(shè)備故障,保持設(shè)備固有的可靠性是十分重要的事情。元器件失效分析的目的不僅在于判斷失效性質(zhì)和明確失效原因,更重要的還在于為積極預(yù)防重復(fù)失效找到有效途徑。下面就一起來看看元器件檢測方法及失效分析主要步驟介紹。
失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。失效分析是確定芯片失效機理的必要手段。失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。失效分析為設(shè)計工程師不斷改進或者修復(fù)芯片的設(shè)計,使之與設(shè)計規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。失效分析可以評估不同測試向量的有效性,為生產(chǎn)測試提供必要的補充,為驗證測試流程優(yōu)化提供必要的信息基礎(chǔ)。
無損檢測是利用物質(zhì)的聲、光、磁和電等特性,在不損害或不影響被檢測對象使用性能的前提下,檢測被檢對象中是否存在缺陷或不均勻性,給出缺陷大小,位置,性質(zhì)和數(shù)量等信息。無損探傷檢測,能發(fā)現(xiàn)材料或工件內(nèi)部和表面所存在的缺欠,能測量工件的幾何特征和尺寸,能測定材料或工件的內(nèi)部組成、結(jié)構(gòu)、物理性能和狀態(tài)等。無損檢測探傷有什么特點?原理又是什么?
鑄件檢驗就是根據(jù)用戶要求和圖紙技術(shù)條件等有關(guān)協(xié)議的規(guī)定,用目測、量具、儀表或其它手段檢驗鑄件是否合格的操作過程。鑄件晶粒粗大、透聲性差,信噪比低,探傷會比較困難,它是利用具有高頻聲能的聲束在鑄件內(nèi)部的傳播中,碰到內(nèi)部表面或缺陷時產(chǎn)生反射而發(fā)現(xiàn)缺陷。反射聲能的大小是內(nèi)表面或缺陷的指向性和性質(zhì)以及這種反射體的聲阻抗的函數(shù),因此可以應(yīng)用各種缺陷或內(nèi)表面反射的聲能來檢測缺陷的存在位置、壁厚或者表面下缺陷的深度。