鍵合強度（Bond strength）

描述：鍵合強度試驗?zāi)康氖窃u估鍵合強度分布或測定鍵合強度是否符合適用訂購文件的要求，可應(yīng)用于采用低溫焊、熱壓焊、超聲焊或有關(guān)技術(shù)鍵合的、具有內(nèi)引線的微電子器件封裝內(nèi)部的引線-芯片鍵合、引線-基板鍵合或內(nèi)引線-封裝引線鍵合。也可應(yīng)用于器件的外部鍵合，如器件外引線-基板或布線板的鍵合，或應(yīng)用于不采用內(nèi)引線的器件（如梁式引線或倒裝片器件）中的芯片-基板之間的內(nèi)部鍵合。

應(yīng)用范圍：硅片、金屬件、晶圓、引線、鋁帶、塑料器件、粗鋁絲超聲引線、半導(dǎo)體微器件、微電子器件引線、柔性襯底、集成電路銅引線等。

鍵合強度測試圖片：