描述: 結構測試是參照對比被試器件總體結構的基準照片、草圖或圖紙。測試中應包括關鍵尺寸、各組成零件的位置、以及有關的材料和工藝細節(jié)。參照文件應是現(xiàn)行使用的,以便能反映出在結構方面已批準的任何變化。
應用范圍:微電子器件。
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