電子檢測(cè)的方法有很多,其中,可焊性測(cè)試指通過(guò)潤(rùn)濕平衡法這一原理對(duì)元器件、PCB板、PAD、焊料和助焊劑等的可焊接性能做一定性和定量的評(píng)估。對(duì)現(xiàn)代電子工業(yè)的1級(jí)(IC封裝)和2級(jí)(電子元器件組裝到印刷線路板)的工藝都需要高質(zhì)量的互通連接技術(shù),以及高質(zhì)量和零缺陷的焊接工藝有極大的幫助。元器件的可焊性,指其在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)、規(guī)定的溫度下能被焊接的能力。它與元器件的熱力特性、潤(rùn)濕性、耐熱性有關(guān)。例如,光纖插座,用手工焊接時(shí)比較難焊,原因就是它的熱容量比較大。下面我們來(lái)一起看看電子元器件可焊性的測(cè)試方法及具
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中,可焊性測(cè)試中心涉及到有色金屬、金屬材料試驗(yàn)、印制電路和印制電路板、環(huán)境試驗(yàn)、電工和電子試驗(yàn)、焊接、釬焊和低溫焊、電子元器件綜合、電子元器件組件、航空航天制造用緊固件、航空航天用電氣設(shè)備和系統(tǒng)。在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中,可焊性測(cè)試中心涉及到貴金屬及其合金、金屬工藝性能試驗(yàn)方法、印制電路、焊接與切割、環(huán)境條件與通用試驗(yàn)方法、可靠性和可維護(hù)性、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、連接器。
眾所周知,電子產(chǎn)品的生產(chǎn)需要兼顧軟硬件,簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)操作系統(tǒng)和硬件的整合就是一門(mén)學(xué)問(wèn)。消費(fèi)者獲得一個(gè)電子產(chǎn)品后,外觀和使用體驗(yàn)?zāi)茉诘谝粫r(shí)間獲得反饋,即使單獨(dú)的硬件或者操作系統(tǒng)可以以假亂真,二者的整合也還有相當(dāng)?shù)拈T(mén)檻,整合不夠優(yōu)良將直接影響消費(fèi)者的使用體驗(yàn)。當(dāng)前缺芯行情,大面積的供應(yīng)鏈處于失衡狀態(tài),多種元器件出現(xiàn)短缺,而中國(guó)有著幾乎全球最大的電子元器件交易集散地,這里有大大小小的商家,每天進(jìn)行數(shù)以萬(wàn)計(jì)的電子垃圾的拆解。這些都給假芯片提供了市場(chǎng)機(jī)會(huì),它們大部分在國(guó)內(nèi)流轉(zhuǎn),有的還流通至海外供應(yīng)鏈。
金屬材料失效分析重點(diǎn)分析結(jié)構(gòu)件在使用過(guò)程中(或者是在使用前的試驗(yàn)過(guò)程中),由于尺寸、形狀、材料的性能或組織發(fā)生變化而引起的機(jī)械或機(jī)械零件部件不能較好的完成指定功能,或者機(jī)械構(gòu)件喪失了原設(shè)計(jì)功能的現(xiàn)象。從而找出結(jié)構(gòu)件失效的主要原因,以及預(yù)防失效措施和產(chǎn)品改進(jìn)方案提示。
隨著芯片技術(shù)和芯片封裝技術(shù)的不斷革新,芯片面積和封裝面積都朝著更小、更輕、更薄化發(fā)展,引腳數(shù)增多,引腳間距減小,芯片外觀檢測(cè)的難度也不斷增加,傳統(tǒng)的人工檢測(cè)方式已經(jīng)難以滿(mǎn)足檢測(cè)的高要求,也無(wú)法適應(yīng)大批量生產(chǎn)制造。機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)正廣泛地應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域,從醫(yī)學(xué)界圖像到遙感圖像,從工業(yè)生產(chǎn)檢測(cè)到文件處理,從毫微米技術(shù)到多媒體數(shù)據(jù)庫(kù)等,需要人類(lèi)視覺(jué)的場(chǎng)合幾乎都需要機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng),特別在某些要求高或人類(lèi)視覺(jué)無(wú)法感知的領(lǐng)域,如精確定量感知、危險(xiǎn)現(xiàn)場(chǎng)感知、不可見(jiàn)物體感知等,機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)的作用就顯得尤為
隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展,SMT技術(shù)越來(lái)越普及,單片機(jī)芯片的體積越來(lái)越小,單片機(jī)芯片的腳位也在逐漸增加,特別是近年來(lái)出現(xiàn)的BGA單片機(jī)芯片。因?yàn)锽GA單片機(jī)芯片周?chē)鷽](méi)有按傳統(tǒng)設(shè)計(jì)分布,而是分布在單片機(jī)芯片底部,根據(jù)傳統(tǒng)的人工視覺(jué)檢測(cè),無(wú)疑無(wú)法判斷焊點(diǎn)的質(zhì)量,因此必須根據(jù)ICT甚至功能進(jìn)行測(cè)試。但若存在批量錯(cuò)誤,則無(wú)法及時(shí)發(fā)現(xiàn)并糾正,人工視覺(jué)檢測(cè)是最不準(zhǔn)確、重復(fù)性最差的技術(shù)。所以X-ray檢測(cè)技術(shù)在SMT回流焊后檢測(cè)中的應(yīng)用日益廣泛。既能對(duì)焊點(diǎn)進(jìn)行定性分析,又能及時(shí)發(fā)現(xiàn)故障并糾正。
金屬材料失效形式及失效原因密切相關(guān),失效形式是材料失效過(guò)程的表觀特征,可以通過(guò)當(dāng)?shù)姆绞接^察。而失效原因是導(dǎo)致構(gòu)件失效的物理化學(xué)機(jī)制,需要通過(guò)失效過(guò)程調(diào)研研究及對(duì)失效件的宏觀、微觀分析來(lái)診斷和論證。本文收集整理了一些金屬材料檢測(cè)的相關(guān)資料,期望本文能對(duì)各位讀者有比較大的參閱價(jià)值。
焊接性是指材料在規(guī)定的施焊條件下,焊接成設(shè)計(jì)要求所規(guī)定的構(gòu)件并滿(mǎn)足預(yù)定服役要求的能力。焊接性好的金屬,焊接接頭不易產(chǎn)生裂紋、氣孔和夾渣缺陷,而且有較高的力學(xué)性能。金屬材料的可焊性是指被焊金屬在采用一定的焊接方法、焊接材料、工藝參數(shù)及結(jié)構(gòu)型式條件下,獲得優(yōu)質(zhì)焊接接頭的難易程度。鋼材可焊性的主要因素是化學(xué)成分。在各種元素中,碳的影響最明顯,其它元素的影響可折合成碳的影響,因此可用碳當(dāng)量方法來(lái)估算被焊鋼材的可焊性。硫、磷對(duì)鋼材焊接性能影響也很大,在各種合格鋼材中,硫、磷都要受到嚴(yán)格限制。
近年來(lái),隨著金屬材料越來(lái)越廣泛的運(yùn)用于生產(chǎn)生活的各個(gè)領(lǐng)域,材料失效問(wèn)題也日顯突出。材料失效主要是指機(jī)械構(gòu)件由于尺寸、形狀或材料的組織與性能發(fā)生變化而引起的機(jī)械構(gòu)件不能完滿(mǎn)地完成預(yù)定的功能。金屬材料在各種工程應(yīng)用中的失效模式主要由斷裂、腐蝕、磨損和變形等。金屬材料檢測(cè)分析范圍涉及對(duì)黑色金屬、有色金屬、機(jī)械設(shè)備及零部件等的機(jī)械性能測(cè)試、化學(xué)成分分析、金相分析、精密尺寸測(cè)量、無(wú)損探傷、耐腐蝕試驗(yàn)和環(huán)境模擬測(cè)試等。
(1)根據(jù)材料斷裂前所產(chǎn)生的宏觀變形量大小,將斷裂分為韌性斷裂和脆斷裂。(2)韌性斷裂是斷裂前發(fā)生明顯宏觀塑性變形。而脆性斷裂是斷裂前不發(fā)生塑性變形,斷裂后其斷口齊平,由無(wú)數(shù)發(fā)亮的小平面組成。
- IC真?zhèn)螜z測(cè)
- DPA檢測(cè)
- 失效分析
- 開(kāi)發(fā)及功能驗(yàn)證
- 材料分析
- 可靠性驗(yàn)證
- 化學(xué)分析
- 外觀檢測(cè)
- X-Ray檢測(cè)
- 功能檢測(cè)
- SAT檢測(cè)
- 可焊性測(cè)試
- 開(kāi)蓋測(cè)試
- 丙酮測(cè)試
- 刮擦測(cè)試
- HCT測(cè)試
- 切片測(cè)試
- 電子顯微鏡分析
- 電特性測(cè)試
- FPGA開(kāi)發(fā)
- 單片機(jī)開(kāi)發(fā)
- 編程燒錄
- 掃描電鏡SEM
- 穿透電鏡TEM
- 高低溫試驗(yàn)
- 冷熱沖擊
- 快速溫變ESS
- 溫度循環(huán)
- ROHS檢測(cè)
- 無(wú)鉛測(cè)試