芯片功能檢測方法有哪些?第三方檢測機構

日期:2021-10-19 14:25:00 瀏覽量:3098 標簽: 關鍵功能測試 芯片檢測 功能檢測

隨著電子設備小型化的需求越來越大,單一芯片的功能越來越多?,F有技術中,為了保證芯片的質量,在設計成型至大批量生產的過程之間,通常包括芯片檢測階段。然而傳統(tǒng)的芯片調試技術是基于芯片功能額外開發(fā)的一套針對功能的測試程序,其通常只能檢測到芯片是否出現錯誤或者故障,并不能對芯片終端中的錯誤進行準確的定位,只能通過檢測人員的經驗進行判斷,從而導致芯片檢測的速度較慢,效率較低。

芯片是半導體元件產品的統(tǒng)稱,又稱微電路、微芯片、集成電路。是指內含集成電路的硅片,體積很小,常常是計算機或其他電子設備的一部分。其中所有元件在結構上已組成一個整體,使電子元件向著微小型化、低功耗和高可靠性方面邁進了一大步。它在電路中用字母“IC”表示。集成電路發(fā)明者為杰克·基爾比(基于硅的集成電路)和羅伯特·諾伊思(基于鍺的集成電路)。當今半導體工業(yè)大多數應用的是基于硅的集成電路。

芯片功能檢測方法有哪些?第三方檢測機構

1、軟件的實現

根據“成電之芯”輸入激勵和輸出響應的數據對比要求,編寫了可綜合的verilog代碼。代碼的設計完全按照“成電之芯”的時序要求實現。

根據基于可編程器件建立測試平臺的設計思想,功能測試平臺的構建方法如下:采用可編程邏輯器件進行輸入激勵的產生和輸出響應的處理;采用ROM來實現DSP核程序、控制寄存器參數、脈壓系數和濾波系數的存儲;采用SRAM作為片外緩存。

2、 硬件的實現

根據功能測試平臺的實現框圖進行了原理圖和PCB的設計,最后設計完成了一個可對“成電之芯”進行功能測試的系統(tǒng)平臺。

可編程邏輯器件分類:

1、固定邏輯器件中的電路是永久性的,它們完成一種或一組功能 - 一旦制造完成,就無法改變。

2、可編程邏輯器件(PLD)是能夠為客戶提供范圍廣泛的多種邏輯能力、特性、速度和電壓特性的標準成品部件 - 而且此類器件可在任何時間改變,從而完成許多種不同的功能。

作為電子產品的核心部件,芯片的品質更趨精益求精,為了確保芯片質量,紛紛采用了有效的檢測技術進行芯片功能檢測。芯片的驗證,伴隨著設計復雜度的提升,工作量和工作難度是成數量級上升的。驗證工程師通過在設計工程上面運行復雜的仿真,將芯片產品規(guī)格所描述功能,通過二進制波形一一展示出來,如何處理復雜巨大的狀態(tài)空間,以及如何檢測出不正確的行為,是驗證工程師面臨的極大挑戰(zhàn)。

上述就是此次創(chuàng)芯檢測帶來的“芯片功能檢測”相關內容,希望對大家有幫助,我們將在后期帶來更多精彩內容。我們的檢測服務范圍包括:電子元器件測試驗證、IC真假鑒別產品設計選料、失效分析,功能檢測、工廠來料檢驗以及編帶等多種測試項目。熱忱歡迎來電,我們將竭誠為您服務。


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