產(chǎn)品進(jìn)行可靠性測(cè)試的重要性及目的
日期:2021-04-26 16:19:00 瀏覽量:3287 標(biāo)簽: 可靠性分析 可靠性測(cè)試 新產(chǎn)品開發(fā)測(cè)試(FT)
產(chǎn)品在一定時(shí)間或條件下無(wú)故障地執(zhí)行指定功能的能力或可能性??赏ㄟ^(guò)可靠度、失效率還有平均無(wú)故障間隔等來(lái)評(píng)價(jià)產(chǎn)品的可靠性。而且這是一項(xiàng)重要的質(zhì)量指標(biāo),只是定性描述就顯得不夠,必須使之?dāng)?shù)量化,這樣才能進(jìn)行精確的描述和比較。
可靠性是與電子工業(yè)的發(fā)展密切相關(guān)的,其重要性可從電子產(chǎn)品發(fā)展的三個(gè)特點(diǎn)來(lái)加以說(shuō)明。
首先,電子產(chǎn)品的復(fù)雜程度在不斷增加。人們最早使用的礦石收音機(jī)是非常簡(jiǎn)單的,隨之先后出現(xiàn)了各種類型的收音機(jī)、錄音機(jī)、錄放相機(jī)、通訊機(jī)、雷達(dá)、制導(dǎo)系統(tǒng)、電子計(jì)算機(jī)以及宇航控制設(shè)備,復(fù)雜程度不斷地增長(zhǎng)。電子產(chǎn)品復(fù)雜程度的顯著標(biāo)志是所需元器件數(shù)量的多少。而電子產(chǎn)品的可靠性決定于所用元器件的可靠性,因?yàn)殡娮赢a(chǎn)品中的任何一個(gè)元器件、任何一個(gè)焊點(diǎn)發(fā)生故障都將導(dǎo)致系統(tǒng)發(fā)生故障。一般說(shuō)來(lái),電子產(chǎn)品所用的元器件數(shù)量越多,其可靠性問(wèn)題就越嚴(yán)重,為保證產(chǎn)品或系統(tǒng)能可靠地工作,對(duì)元器件可靠性的要求就非常高、非??量獭?/p>
其次,電子產(chǎn)品的使用環(huán)境日益嚴(yán)酷。從實(shí)驗(yàn)室到野外,從熱帶到寒帶,從陸地到深海,從高空到宇宙空間,經(jīng)受著不同的環(huán)境條件,除溫度、濕度影響外,海水、鹽霧、沖擊、振動(dòng)、宇宙粒子、各種輻射等對(duì)電子元器件的影響,導(dǎo)致產(chǎn)品失效的可能性增大。
第三,電子產(chǎn)品的裝置密度不斷增加。從第一代電子管產(chǎn)品進(jìn)入第二代晶體管,現(xiàn)已從小、中規(guī)模集成電路進(jìn)入到大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路,電子產(chǎn)品正朝小型化、微型化方向發(fā)展,其結(jié)果導(dǎo)致裝置密度的不斷增加,從而使內(nèi)部溫升增高,散熱條件惡化。而電子元器件將隨環(huán)境溫度的增高,降低其可靠性,因而元器件的可靠性引起人們的極大重視。
為了測(cè)定、驗(yàn)證或提高產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱為可靠性試驗(yàn),它是產(chǎn)品可靠性工作的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。通常,對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性試驗(yàn)的目的如下:
(1)在研制階段使產(chǎn)品達(dá)到預(yù)定的可靠性指標(biāo)。為了使產(chǎn)品能達(dá)到預(yù)定的可靠性指標(biāo),在研制階段需要對(duì)樣品進(jìn)行可靠性試驗(yàn),以便找出產(chǎn)品在原材料、結(jié)構(gòu)、工藝、環(huán)境適應(yīng)性等方面所存在的問(wèn)題,而加以改進(jìn),經(jīng)過(guò)反復(fù)試驗(yàn)與改進(jìn),就能不斷地提高產(chǎn)品的各項(xiàng)可靠性指標(biāo),達(dá)到預(yù)定的要求。
(2)在產(chǎn)品研制定型時(shí)進(jìn)行可靠性鑒定。新產(chǎn)品研制定型時(shí),要根據(jù)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)(或產(chǎn)品技術(shù)條件)進(jìn)行鑒定試驗(yàn),以便全面考核產(chǎn)品是否達(dá)到規(guī)定的可靠性指標(biāo)。
(3)在生產(chǎn)過(guò)程中控制產(chǎn)品的質(zhì)量。為了穩(wěn)定地生產(chǎn)產(chǎn)品,有時(shí)需要對(duì)每個(gè)產(chǎn)品都要按產(chǎn)品技術(shù)條件規(guī)定的項(xiàng)目進(jìn)行可靠性試驗(yàn)。此外還需要逐批或按一定期限進(jìn)行可靠性抽樣試驗(yàn)。通過(guò)對(duì)產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)可以了解產(chǎn)品質(zhì)量的穩(wěn)定程度。若因原材料質(zhì)量較差或工藝流程失控等原因造成產(chǎn)品質(zhì)量下降,在產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)中就能反映出來(lái),從而可及時(shí)采取糾正措施使產(chǎn)品質(zhì)量恢復(fù)正常。
(4)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行篩選以提高整批產(chǎn)品的可靠性水平。合理的篩選可以將各種原因(如原材料有缺陷、工藝措施不當(dāng)、操作人員疏忽、生產(chǎn)設(shè)備發(fā)生故障和質(zhì)量檢驗(yàn)不嚴(yán)格等)造成的早期失效的產(chǎn)品剔除掉,從而提高整批產(chǎn)品的可靠性水平。
(5)研究產(chǎn)品的失效機(jī)理。通過(guò)產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)(包括模擬試驗(yàn)和現(xiàn)場(chǎng)使用試驗(yàn))可以了解產(chǎn)品在不同環(huán)境及不同應(yīng)力條件下的失效模式與失效規(guī)律。通過(guò)對(duì)失效產(chǎn)品所進(jìn)行的分析可找出引起產(chǎn)品失效的內(nèi)在原因(即失效機(jī)理)及產(chǎn)品的薄弱環(huán)節(jié),從而可以采取相應(yīng)的措施來(lái)提高產(chǎn)品的可靠性水平。
可靠性工程的發(fā)展可以帶動(dòng)和促進(jìn)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、制造、使用、材料、工藝、設(shè)備和管理的發(fā)展,把電子元器件和其它電子產(chǎn)品提高到一個(gè)新的水平。已經(jīng)列為產(chǎn)品的重要質(zhì)量指標(biāo)加以考核和檢驗(yàn),從某種意義上說(shuō),可靠性可以綜合反映產(chǎn)品的質(zhì)量。可靠性工程是一個(gè)綜合的學(xué)科,它的發(fā)展可以帶動(dòng)和促進(jìn)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、制造、使用、材料、工藝、設(shè)備和管理的發(fā)展,把電子元器件和其它電子產(chǎn)品提高到一個(gè)新的水平。正因?yàn)檫@樣,可靠性已形成一個(gè)專門的學(xué)科,作為一個(gè)專門的技術(shù)進(jìn)行研究。