X-Ray檢測|IC芯片缺陷超實用的無損檢測方法

日期:2021-08-16 17:21:00 瀏覽量:3170 標簽: X-射線檢測 無損檢測 X-Ray檢測 芯片檢測

IC芯片,中文也可以理解為集成電路,是把大量微電子元件(晶體管、電阻、電容、晶振二極管等)組成的集成電路放在一塊基板上,制成芯片。IC芯片比較常見的就是我們常用的數(shù)碼電子產品,比如電視、電腦、手機中的芯片都可以稱為IC芯片。

集成電路是一種較為精密的電子元件,它把需要使用的電子器件(晶體管、二極管、電阻、電容和電感等元件)封裝在一個管殼里,成為電路所需的功能微型結構體,結構越精密,就越難被檢測。用于IC芯片X-RAY檢測是專為IC芯片做透視檢測其內部缺陷的無損檢測項目,它是IC芯片缺陷檢測效果最好的方法之一。為了保證IC芯片的質量,一般企業(yè)都會對IC芯片進行檢測,市場上多采用X-RAY檢測設備來進行質量鑒定。

X-Ray檢測|IC芯片缺陷超實用的無損檢測方法

關于X-ray檢測項目

X射線能穿透普通可見光所不能穿透的物質,其穿透力與X射線波長以及穿透物質的密度、厚度有關??傊?,X射線的波長越短,穿透率就越高;密度越低,厚度越薄,X射線穿透就越容易。X-ray檢測技術作為五種常用的無損檢測手段之一,已廣泛應用于工業(yè)界。射線檢測按照STM的定義分為四類:攝影檢查、實時成像檢測和斷層成像檢測。事實上,X射線和自然光在本質上沒有什么不同,它們都屬于電磁波,但X射線量子的能量遠大于可見光,能夠穿透可見光無法穿透的物體,對物質產生復雜的物理和化學作用。

X-ray檢測的應用類型

質量檢驗:X-ray設備可以用來檢測鑄造和焊接缺陷(工業(yè)、電子行業(yè)都可以)。

厚度測量:X-ray設備可用于在線、實時、非接觸測厚。

安全檢查:X-ray設備可用于公共安全領域的安檢。

動態(tài)研究:X-ray設備可以用來研究動態(tài)過程,如彈道、爆炸、鑄造工藝等。

總之,Xray可以達到其它檢測方法無法達到的獨特檢測效果。此外,X光對芯片檢測是沒有任何的損傷的,因此,它也被稱之為無損探傷檢測。除了能夠對芯片進行檢測之外,鋰電池、LED燈珠、半導體等產品的缺陷檢測都是可以通過它來進行完美的檢測。

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