電子產(chǎn)品冷熱沖擊的原理及標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范
日期：2024-01-18 13:50:55 瀏覽量：676 標(biāo)簽: 冷熱沖擊試驗(yàn)
冷熱沖擊測試，又名溫度沖擊、耐熱沖擊測試等，模擬樣品在溫度劇變或高低溫交替變化環(huán)境的測試。電子產(chǎn)品在使用過程中，經(jīng)常會遇到溫度變化，如高溫、低溫和溫度變化的快速轉(zhuǎn)換等。這些溫度變化可能會對電子產(chǎn)品的性能和可靠性產(chǎn)生影響，因此需要對電子產(chǎn)品進(jìn)行冷熱沖擊測試。本文將介紹電子產(chǎn)品冷熱沖擊的原理及標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范。
一、冷熱沖擊的原理
冷熱沖擊測試是一種模擬電子產(chǎn)品在溫度變化下的使用環(huán)境的測試方法。在測試中，將電子產(chǎn)品放置在高溫和低溫的環(huán)境中，或者在高溫和低溫之間快速轉(zhuǎn)換，以模擬電子產(chǎn)品在實(shí)際使用中的溫度變化。通過測試，可以了解電子產(chǎn)品在不同溫度下的性能和可靠性，為產(chǎn)品設(shè)計(jì)和制造提供參考。
冷熱沖擊測試的原理是利用熱脹冷縮的物理原理。當(dāng)電子產(chǎn)品在高溫環(huán)境下時(shí)，材料會膨脹，而在低溫環(huán)境下時(shí)，材料會收縮。這種熱脹冷縮的變化可能會導(dǎo)致電子產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)變形、材料疲勞、焊接松動等問題。通過冷熱沖擊測試，可以檢測電子產(chǎn)品在溫度變化下的性能和可靠性，從而提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。
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二、標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范
為了保證冷熱沖擊測試的準(zhǔn)確性和可比性，國際上制定了一系列標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范。以下是常見的冷熱沖擊測試標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范：
1. MIL-STD-810
MIL-STD-810是美國國防部制定的一項(xiàng)測試標(biāo)準(zhǔn)，用于測試軍用設(shè)備在各種環(huán)境下的性能和可靠性。該標(biāo)準(zhǔn)包括多種測試方法，其中包括了溫度變化的測試方法，如熱沖擊測試和冷沖擊測試等。
2. IEC 60068
IEC 60068是國際電工委員會制定的一項(xiàng)測試標(biāo)準(zhǔn)，用于測試電子產(chǎn)品在不同環(huán)境條件下的性能和可靠性。該標(biāo)準(zhǔn)包括多種測試方法，其中包括了溫度變化的測試方法，如熱沖擊測試和冷沖擊測試等。
3. JESD22-A104
JESD22-A104是美國電子工業(yè)協(xié)會制定的一項(xiàng)測試標(biāo)準(zhǔn)，用于測試電子產(chǎn)品在溫度變化下的性能和可靠性。該標(biāo)準(zhǔn)包括了冷熱沖擊測試的方法和要求，如測試溫度范圍、測試時(shí)間、測試次數(shù)等。
4. GB/T 2423.22
GB/T 2423.22是中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會制定的一項(xiàng)測試標(biāo)準(zhǔn)，用于測試電子產(chǎn)品在溫度變化下的性能和可靠性。該標(biāo)準(zhǔn)包括了冷熱沖擊測試的方法和要求，如測試溫度范圍、測試時(shí)間、測試次數(shù)等。
以上標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范都包括了冷熱沖擊測試的方法和要求，可以作為電子產(chǎn)品冷熱沖擊測試的參考標(biāo)準(zhǔn)。
三、目的
1.產(chǎn)品研發(fā)階段：及時(shí)發(fā)現(xiàn)PCB板的設(shè)計(jì)缺陷并糾正，讓設(shè)計(jì)缺陷止于研發(fā)階段，縮短研發(fā)周期和降低成本。
2.產(chǎn)品生產(chǎn)階段：檢測產(chǎn)品的品質(zhì)是否滿足客戶要求，發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)工藝缺陷及時(shí)排查原因改善，保證出貨產(chǎn)品的安全與品質(zhì)。
3.材料、工藝認(rèn)證：評估使用的基材、油墨、PP、工藝等是否滿足產(chǎn)品的可靠性。
4.材料、工藝研究：對比不同的基材、油墨和工藝的產(chǎn)品耐冷熱沖擊能力，篩選好的材料和工藝。
冷熱沖擊測試是一種重要的電子產(chǎn)品測試方法，可以檢測電子產(chǎn)品在溫度變化下的性能和可靠性。在測試中，需要遵循標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范，以保證測試的準(zhǔn)確性和可比性。通過冷熱沖擊測試，可以提高電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性，為產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和制造提供參考。
