冷熱沖擊試驗方法介紹

日期:2023-08-24 16:40:00 瀏覽量:611 標簽: 冷熱沖擊試驗

冷熱沖擊試驗是一種測試產(chǎn)品或材料在極端溫度變化下的耐久性和穩(wěn)定性的方法。通常,該試驗會將被測試的產(chǎn)品或材料暴露在極端高溫和低溫環(huán)境下,以模擬現(xiàn)實世界中的溫度變化,然后迅速轉換到另一個極端溫度。這個過程會反復進行多次,以模擬長時間使用中的溫度變化和沖擊。本文匯總了一些資料,希望能夠為讀者提供有價值的參考。

冷熱沖擊試驗主要功能就是用于模擬環(huán)境溫度發(fā)生劇烈變化情況下,主要適用于電池、汽車部件、半導體、航空、汽車、科研等領域,檢測產(chǎn)品的可靠性,產(chǎn)品在通過試驗短時間以內(nèi)通過熱脹冷縮原理發(fā)生的物理或者化學的變化,可以大大的縮短產(chǎn)品自然試驗周期,提升產(chǎn)品效率。

冷熱沖擊試驗方法介紹

在冷熱沖擊試驗中,樣品通常被置于一個密閉的試驗室中,該試驗室具有可控的溫度和濕度。樣品首先被暴露在極端高溫環(huán)境下,然后迅速轉移到極端低溫環(huán)境下,或者反之亦然。這種快速的溫度變化會導致材料發(fā)生熱脹冷縮的現(xiàn)象,從而產(chǎn)生應力和應變,進而影響材料的性能和可靠性。

冷熱沖擊試驗可以分為兩種類型,即線性和非線性。線性冷熱沖擊試驗中,樣品的溫度變化是線性的,例如從室溫到-40°C,然后到+85°C。非線性冷熱沖擊試驗中,樣品的溫度變化是不規(guī)則的,例如在短時間內(nèi)從室溫到-70°C,然后在另一個短時間內(nèi)從室溫到+150°C。

冷熱沖擊試驗的結果可以用于評估材料的可靠性和耐久性。例如,在電子設備中使用的塑料零件可能會受到溫度變化的影響,導致裂紋和變形,從而導致設備故障。通過進行冷熱沖擊試驗,可以確定材料的最大使用溫度范圍,以避免這些問題的發(fā)生。

這種試驗方法可以用于各種材料,包括塑料、金屬和陶瓷等。如果是進行液體的試驗的話,就需要通過吊籃把試驗樣品(液體)分別運往兩個區(qū)間來回移動,分別是高溫區(qū)間和低溫區(qū)間,這個不適用于電器類產(chǎn)品。

以上就是冷熱沖擊試驗的相關介紹,希望可以為您提供一些參考!在試驗進行測試之前,我們要確認好試驗樣品是什么材質(zhì),然后才好進行區(qū)別,選擇一個適合的試驗方法,并且才能更加良好的加快試驗的一個進程。

微信掃碼關注 CXOlab創(chuàng)芯在線檢測實驗室
相關閱讀
五月芯資訊回顧:原廠漲價函不斷,疫情影響供應鏈

剛剛過去的五月,全球多地疫情反彈,大宗商品漲價延續(xù),IC產(chǎn)業(yè)鏈毫無意外,缺貨漲價仍是主旋律。下面就來梳理一下過去的一個月,業(yè)內(nèi)都有哪些值得關注的熱點。

2021-06-04 11:16:00
查看詳情
馬來西亞管控延長,被動元件又懸了?

自五月以來,馬來西亞疫情不斷升溫,每日新增確診高峰曾突破9000例。嚴峻形勢之下,馬來西亞政府于6月1日開始執(zhí)行為期半個月的全面行動管制。在這之后,每日新增病例呈現(xiàn)下降趨勢。

2021-06-18 15:41:07
查看詳情
內(nèi)存市場翻轉,漲價來襲!

據(jù)媒體近日報道,內(nèi)存正在重回漲價模式,從去年12月到今年1月,漲幅最多的品種已達30%。據(jù)行情網(wǎng)站數(shù)據(jù),各類內(nèi)存條、內(nèi)存顆粒在12月上旬起開始漲價,至今仍沒有停止的意思。

2021-03-05 10:53:00
查看詳情
被動元件漲價啟動,MLCC和芯片打頭陣

據(jù)臺媒近日報道,MLCC兩大原廠三星電機和TDK近期對一線組裝廠客戶發(fā)出通知,強調(diào)高容MLCC供貨緊張,即將對其調(diào)漲報價。在芯片電阻市場,臺廠國巨正式宣布從三月起漲價15-25%。緊接著,華新科也對代理商發(fā)出漲價通知,新訂單將調(diào)漲10-15%。

2021-03-05 10:52:00
查看詳情
深圳福田海關查獲大批侵權電路板,共計超過39萬個

據(jù)海關總署微信平臺“海關發(fā)布”10日發(fā)布的消息,經(jīng)品牌權利人確認,深圳海關所屬福田海關此前在貨運出口渠道查獲的一批共計391500個印刷電路板,侵犯了UL公司的“RU”商標專用權。

2021-03-05 11:12:00
查看詳情
可靠性測試:常規(guī)的可靠性項目及類型介紹

可靠性試驗是對產(chǎn)品進行可靠性調(diào)查、分析和評價的一種手段。試驗結果為故障分析、研究采取的糾正措施、判斷產(chǎn)品是否達到指標要求提供依據(jù)。根據(jù)可靠性統(tǒng)計試驗所采用的方法和目的,可靠性統(tǒng)計試驗可以分為可靠性驗證試驗和可靠性測定試驗??煽啃詼y定試驗是為測定可靠性特性或其量值而做的試驗,通常用來提供可靠性數(shù)據(jù)。可靠性驗證試驗是用來驗證設備的可靠性特征值是否符合其規(guī)定的可靠性要求的試驗,一般將可靠性鑒定和驗收試驗統(tǒng)稱為可靠性驗證試驗。

2021-04-26 16:17:00
查看詳情
產(chǎn)品進行可靠性測試的重要性及目的

產(chǎn)品在一定時間或條件下無故障地執(zhí)行指定功能的能力或可能性??赏ㄟ^可靠度、失效率還有平均無故障間隔等來評價產(chǎn)品的可靠性。而且這是一項重要的質(zhì)量指標,只是定性描述就顯得不夠,必須使之數(shù)量化,這樣才能進行精確的描述和比較。

2021-04-26 16:19:00
查看詳情
匯總:半導體失效分析測試的詳細步驟

失效分析是芯片測試重要環(huán)節(jié),無論對于量產(chǎn)樣品還是設計環(huán)節(jié)亦或是客退品,失效分析可以幫助降低成本,縮短周期。 常見的失效分析方法有Decap,X-RAY,IV,EMMI,F(xiàn)IB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,因為失效分析設備昂貴,大部分需求單位配不了或配不齊需要的設備,因此借用外力,使用對外開放的資源,來完成自己的分析也是一種很好的選擇。我們選擇去外面測試時需要準備的信息有哪些呢?下面為大家整理一下:

2021-04-26 16:29:00
查看詳情
芯片常用失效分析手段和流程

一般來說,集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過程中失效不可避免,隨著人們對產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,通過芯片失效分析,可以幫助集成電路設計人員找到設計上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設計與操作中的不當?shù)葐栴}。芯片失效分析的常用方法不外乎那幾個流程,最重要的還是要借助于各種先進精確的電子儀器。以下內(nèi)容主要從這兩個方面闡述,希望對大家有所幫助。

2021-04-26 16:41:00
查看詳情
值得借鑒!PCB板可靠性測試方法分享

PCB電路板是電子元件的基礎和高速公路,又稱印刷電路板,是電子元器件電氣連接的提供者。它的發(fā)展已有100多年的歷史了;它的設計主要是版圖設計;采用電路板的主要優(yōu)點是大大減少布線和裝配的差錯,提高了自動化水平和生產(chǎn)勞動率。PCB的質(zhì)量非常關鍵,要檢查PCB的質(zhì)量,必須進行多項可靠性測試。這篇文章就是對測試的介紹,一起來看看吧。

2021-04-26 16:47:42
查看詳情