冷熱沖擊試驗機(jī)技術(shù)參數(shù)及試驗標(biāo)準(zhǔn)
日期：2023-08-22 15:30:00 瀏覽量：559 標(biāo)簽: 冷熱沖擊試驗
冷熱沖擊試驗機(jī)是一種常用的材料測試設(shè)備，用于評估材料在溫度變化條件下的耐久性能。本文將圍繞這個問題進(jìn)行詳細(xì)介紹，探討冷熱沖擊試驗機(jī)的技術(shù)參數(shù)及試驗標(biāo)準(zhǔn)。
冷熱沖擊試驗機(jī)的技術(shù)參數(shù)包括以下幾個方面：
（1）溫度范圍：冷熱沖擊試驗機(jī)應(yīng)該能夠提供廣泛的溫度范圍，以滿足不同材料的測試需求。一般來說，溫度范圍應(yīng)該在-70℃至+150℃之間。
（2）溫度控制精度：冷熱沖擊試驗機(jī)的溫度控制精度應(yīng)該達(dá)到較高水平，以保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。一般來說，溫度控制精度應(yīng)該在±1℃以內(nèi)。
（3）試樣尺寸：冷熱沖擊試驗機(jī)應(yīng)該能夠容納不同尺寸的試樣，以滿足不同材料的測試需求。
（4）試驗方式：冷熱沖擊試驗機(jī)的試驗方式包括單向沖擊、雙向沖擊和環(huán)形沖擊等，應(yīng)該根據(jù)不同材料的測試需求來選擇合適的試驗方式。
（5）試驗時間：冷熱沖擊試驗機(jī)的試驗時間應(yīng)該根據(jù)不同材料的測試需求來確定。一般來說，試驗時間應(yīng)該在幾十分鐘至數(shù)小時之間。
_20230822153927_188.jpg "冷熱沖擊試驗機(jī)技術(shù)參數(shù)及試驗標(biāo)準(zhǔn)")
以下是一些常見的冷熱沖擊試驗機(jī)的試驗標(biāo)準(zhǔn)：
1. GB/T 2423.22-2012《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 第22節(jié)：溫度變化試驗（冷熱沖擊試驗）》
該標(biāo)準(zhǔn)是中國電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會頒布的，適用于電子、電氣、機(jī)械等產(chǎn)品的冷熱沖擊試驗。
2. IEC 60068-2-14 Ed. 3.0 b:2009-07《Environmental testing - Part 2-14: Tests - Test N: Change of temperature》
該標(biāo)準(zhǔn)由國際電工委員會頒布，適用于電氣、電子、機(jī)械等產(chǎn)品的冷熱沖擊試驗。
3. MIL-STD-202G Method 107G《Test Method Standard Electronic and Electrical Component Parts》
該標(biāo)準(zhǔn)由美國國防部頒布，適用于電子、電氣、機(jī)械等產(chǎn)品的冷熱沖擊試驗。
4. JIS C 60068-2-14《Environmental testing - Part 2-14: Tests - Test N: Change of temperature》
該標(biāo)準(zhǔn)由日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化委員會頒布，適用于電子、電氣、機(jī)械等產(chǎn)品的冷熱沖擊試驗。
以上是創(chuàng)芯檢測小編整理的冷熱沖擊試驗機(jī)技術(shù)參數(shù)及試驗標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)內(nèi)容，希望對您有所幫助。創(chuàng)芯檢測是一家電子元器件專業(yè)檢測機(jī)構(gòu)，目前主要提供電容、電阻、連接器、MCU、CPLD、FPGA、DSP等集成電路檢測服務(wù)。專精于電子元器件功能檢測、電子元器件來料外觀檢測、電子元器件解剖檢測、丙酮檢測、電子元器件X射線掃描檢測、ROHS成分分析檢測。歡迎致電，我們將竭誠為您服務(wù)！
