篤行不怠展本色 踔厲奮發(fā)顯擔(dān)當(dāng)
農(nóng)歷新年歸來(lái),創(chuàng)芯在線檢測(cè)中心勇?lián)姑?,推?dòng)高質(zhì)量發(fā)展實(shí)現(xiàn)新跨越。經(jīng)過(guò)前期精心籌備,創(chuàng)芯檢測(cè)香港實(shí)驗(yàn)室“創(chuàng)芯在線國(guó)際技術(shù)有限公司”正式宣告成立。廣大香港地區(qū)客戶(hù),自即日起也能同等享受到優(yōu)質(zhì)高效的芯片檢測(cè)服務(wù)。
近幾年,國(guó)際關(guān)系的不穩(wěn)定和全球疫情反復(fù)的匙響,給電子產(chǎn)業(yè)鏈帶來(lái)了不小的震動(dòng),缺芯情況持續(xù)發(fā)酵,導(dǎo)致芯片價(jià)格快速上漲,間接引發(fā)假貨泛濫,嚴(yán)重影響供應(yīng)鏈下游生產(chǎn)企業(yè)的主產(chǎn)。為此,國(guó)家也不斷出臺(tái)產(chǎn)業(yè)相關(guān)利好政策,扶持國(guó)產(chǎn)芯片替代,很多生產(chǎn)企業(yè)相繼提升了國(guó)產(chǎn)芯片的采購(gòu)份額,一定程度上解決了芯片供應(yīng)短缺的問(wèn)題井提升了供應(yīng)鏈的穩(wěn)定。
2022年10月29日,創(chuàng)芯在線檢測(cè)中心開(kāi)展關(guān)于CNAS 內(nèi)審員及管理人員專(zhuān)題培訓(xùn),促進(jìn)實(shí)驗(yàn)室更規(guī)范、高效的建立和運(yùn)行質(zhì)量體系文件,提高實(shí)驗(yàn)室內(nèi)審員的工作能力,特聘請(qǐng)從事檢驗(yàn)檢測(cè)行業(yè)多年的資深專(zhuān)家們進(jìn)行此次培訓(xùn)。
8月15日,創(chuàng)芯在線檢測(cè)中心正式從英達(dá)豐工業(yè)園A棟401搬到了英達(dá)豐工業(yè)園A棟二樓(整層)。創(chuàng)新在線科技集團(tuán)CEO馬新寧先生、華南區(qū)總經(jīng)理徐春雷先生、ICGOO總經(jīng)理賈靜女士、創(chuàng)芯在線檢測(cè)中心實(shí)驗(yàn)室經(jīng)理丁向東先生等領(lǐng)導(dǎo)與全體員工共同親眼見(jiàn)證創(chuàng)芯在線檢測(cè)中心的喬遷時(shí)刻。
在缺芯大潮之下,IC行業(yè)每個(gè)月最熱點(diǎn)的資訊都是有關(guān)缺貨漲價(jià),2021年的第11個(gè)月也不例外。當(dāng)月,市場(chǎng)缺貨漲價(jià)、交期延長(zhǎng)仍在延續(xù),但兩大存儲(chǔ)器跌勢(shì)延續(xù),造成市場(chǎng)“長(zhǎng)短料”確立,這會(huì)對(duì)市場(chǎng)產(chǎn)生新的影響。
轉(zhuǎn)眼間6月已經(jīng)過(guò)去,2021年行至半途。上半年IC市場(chǎng)由于供不應(yīng)求,外加氣候、疫情等意外因素,缺貨漲價(jià)愈演愈烈。下半年這些不利因素能否消除,將決定行情反轉(zhuǎn)與否。六月份的供應(yīng)鏈?zhǔn)录?,將?duì)下半年行情起到指引作用,因此很有必要梳理一下。
從疫情迅猛襲擊,到芯片全面漲價(jià),這一年來(lái)的很多大事已經(jīng)改變了IC行業(yè)的一些固有“玩法”。在晶圓代工行業(yè),產(chǎn)能緊缺已經(jīng)催生出了新的商業(yè)手段,改變了代工廠擴(kuò)產(chǎn)及接單的原有模式。這些新的變化,正在沖擊著IC行業(yè)傳統(tǒng)形態(tài),其結(jié)果不一定全是正面,但必定會(huì)深刻影響未來(lái)。
進(jìn)入第二季度,“缺芯”大潮并沒(méi)有退去。在暴漲的需求之下,IC產(chǎn)業(yè)鏈各個(gè)環(huán)節(jié)都在漲價(jià)。就芯片封測(cè)而言,日月光等大廠在今年第一季度已經(jīng)提升過(guò)報(bào)價(jià),但隨著銅等原材料價(jià)格不斷上漲,再加上馬來(lái)西亞因疫情“封國(guó)”,封測(cè)行業(yè)的漲價(jià)顯然還會(huì)繼續(xù)。對(duì)電子制造廠、IC銷(xiāo)售商來(lái)說(shuō),只有做好準(zhǔn)備去應(yīng)對(duì)下一階段的行情。
- IC真?zhèn)螜z測(cè)
- DPA檢測(cè)
- 失效分析
- 開(kāi)發(fā)及功能驗(yàn)證
- 材料分析
- 可靠性驗(yàn)證
- 化學(xué)分析
- 外觀檢測(cè)
- X-Ray檢測(cè)
- 功能檢測(cè)
- SAT檢測(cè)
- 可焊性測(cè)試
- 開(kāi)蓋測(cè)試
- 丙酮測(cè)試
- 刮擦測(cè)試
- HCT測(cè)試
- 切片測(cè)試
- 電子顯微鏡分析
- 電特性測(cè)試
- FPGA開(kāi)發(fā)
- 單片機(jī)開(kāi)發(fā)
- 編程燒錄
- 掃描電鏡SEM
- 穿透電鏡TEM
- 高低溫試驗(yàn)
- 冷熱沖擊
- 快速溫變ESS
- 溫度循環(huán)
- ROHS檢測(cè)
- 無(wú)鉛測(cè)試