ic可靠性測(cè)試項(xiàng)目 半導(dǎo)體第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)

日期：2022-07-12 18:15:48 瀏覽量：1748 標(biāo)簽: 可靠性測(cè)試 IC

據(jù)了解，可靠性測(cè)試設(shè)備能夠模擬環(huán)境并通過(guò)檢測(cè)確保產(chǎn)品達(dá)到在研發(fā)、設(shè)計(jì)、制造中預(yù)期的質(zhì)量目標(biāo)。而這種檢測(cè)方式一方面可以保障企業(yè)產(chǎn)品品質(zhì)，同時(shí)也能夠提升企業(yè)產(chǎn)品在市場(chǎng)中的競(jìng)爭(zhēng)力。現(xiàn)代半導(dǎo)體 IC 設(shè)計(jì)的第一個(gè)奇跡是它們能夠在如此小的空間內(nèi)包含高度復(fù)雜的電子電路。這些技術(shù)奇跡的制造商必須確保他們生產(chǎn)的設(shè)備能夠達(dá)到最終用戶的性能預(yù)期并滿足預(yù)期的使用壽命要求。

ic可靠性測(cè)試項(xiàng)目 半導(dǎo)體第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)

可靠性測(cè)試的類型

可靠性測(cè)試的重點(diǎn)是使設(shè)備因過(guò)壓而失效。在此過(guò)程中，操作測(cè)試顯示芯片保持功能的程度。每當(dāng)組件達(dá)到其斷裂點(diǎn)時(shí)，分析就會(huì)顯示其設(shè)計(jì)是否具有內(nèi)在的合理性。該方法預(yù)測(cè)一旦大規(guī)模生產(chǎn)并在現(xiàn)場(chǎng)部署，該設(shè)備是否會(huì)在可接受的水平上運(yùn)行。

自 IC 芯片首次亮相以來(lái)的幾十年里，測(cè)試工程師開發(fā)了不同類型的加速壽命測(cè)試 (ALT) 。各種因素決定了哪些測(cè)試適用于給定設(shè)備。前幾代的操作規(guī)范和可靠性數(shù)據(jù)庫(kù)形成了一個(gè)統(tǒng)計(jì)基線，從中可以得出新的設(shè)備測(cè)試結(jié)果。

JEDEC等半導(dǎo)體標(biāo)準(zhǔn)化組織建立了適當(dāng)?shù)目煽啃詼y(cè)試參數(shù)。一些最常見的測(cè)試包括：

（1）高溫工作壽命(HTOL)?–這種可靠性測(cè)試方法通過(guò)提高溫度和電壓來(lái)加快 DUT 的使用壽命。加速老化因子 (AF) 乘數(shù)允許根據(jù)測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)度計(jì)算 DUT的預(yù)期壽命。HTOL 對(duì) IC 設(shè)計(jì)的每個(gè)子結(jié)構(gòu)進(jìn)行測(cè)試，因此測(cè)試可以揭示有關(guān)設(shè)備壽命和由于壓力可能導(dǎo)致的故障點(diǎn)的精確信息。

（2）高加速溫度和濕度應(yīng)力測(cè)試 (HAST)?–評(píng)估器件封裝在潮濕環(huán)境中的可靠性。通過(guò)增加加壓環(huán)境中的溫度和濕度，該測(cè)試會(huì)加速水分對(duì)包裝密封的降解。一旦濕氣破壞了密封，很可能由于器件基板和連接引線的腐蝕而失效。

（3）溫度循環(huán)測(cè)試 (TCT)?–通常與加固設(shè)備一起使用，TCT 檢查設(shè)備承受極端高溫和低溫的能力。溫度循環(huán)會(huì)加速 IC 器件封裝、引線和密封件的疲勞失效。

（4）高溫存儲(chǔ) (HTS)?–模擬設(shè)備在高溫環(huán)境中的長(zhǎng)期存儲(chǔ)。HTS 被認(rèn)為是一種被動(dòng)測(cè)試，因?yàn)闆]有電應(yīng)力起作用。HTS 有助于確定設(shè)備在長(zhǎng)時(shí)間承受高溫時(shí)是否能夠保持可靠。

測(cè)試有效性

存在許多類型的可靠性測(cè)試來(lái)模擬設(shè)備可能必須運(yùn)行的特定條件。公司委托測(cè)試工程師確定評(píng)估特定 IC 的最佳方法。測(cè)試有效性評(píng)估測(cè)試是否測(cè)量了正確的參數(shù)以確定芯片是否會(huì)按設(shè)計(jì)執(zhí)行。為了創(chuàng)建可靠的產(chǎn)品，測(cè)試不僅必須重新創(chuàng)建加速壓力因素的準(zhǔn)確表示，還必須選擇正確的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行評(píng)估。

收集正確數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確可靠性測(cè)試對(duì)于銷售的任何電子產(chǎn)品的長(zhǎng)期成功至關(guān)重要，因?yàn)樗菍?duì)產(chǎn)品將按承諾運(yùn)行的驗(yàn)證。如果大量設(shè)備在現(xiàn)場(chǎng)出現(xiàn)故障，公司將蒙受金錢收益和聲譽(yù)損失。

邁向更高的可靠性

為了保持競(jìng)爭(zhēng)力，公司必須找到具有成本效益的方法來(lái)預(yù)測(cè)新制造的設(shè)備的性能。一個(gè)答案是使用足夠靈活的專業(yè)設(shè)計(jì)的測(cè)試平臺(tái)來(lái)對(duì)不同的產(chǎn)品執(zhí)行測(cè)試。

維護(hù)多功能測(cè)試臺(tái)有助于生產(chǎn)設(shè)施避免將自制解決方案拼湊在一起的陷阱，這些解決方案可能證明不太令人滿意。投資于確保各種產(chǎn)品有效性的測(cè)試程序可以幫助公司在IC 制造的激烈競(jìng)爭(zhēng)中取得領(lǐng)先。

以上是創(chuàng)芯檢測(cè)小編整理的ic可靠性測(cè)試相關(guān)內(nèi)容，希望對(duì)您有所幫助。深圳創(chuàng)芯在線檢測(cè)技術(shù)有限公司是國(guó)內(nèi)知名的電子元器件專業(yè)檢測(cè)機(jī)構(gòu)，建有標(biāo)準(zhǔn)化實(shí)驗(yàn)室3個(gè)，實(shí)驗(yàn)室面積1000平米以上。檢測(cè)服務(wù)范圍涵蓋：電子元器件測(cè)試驗(yàn)證、IC真假鑒別，產(chǎn)品設(shè)計(jì)選料、失效分析，功能檢測(cè)、工廠來(lái)料檢驗(yàn)、元器件X-Ray檢測(cè)以及編帶等多種測(cè)試項(xiàng)目。

微信掃碼關(guān)注 CXOlab創(chuàng)芯在線檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室
相關(guān)閱讀
五月芯資訊回顧：原廠漲價(jià)函不斷，疫情影響供應(yīng)鏈

剛剛過(guò)去的五月，全球多地疫情反彈，大宗商品漲價(jià)延續(xù)，IC產(chǎn)業(yè)鏈毫無(wú)意外，缺貨漲價(jià)仍是主旋律。下面就來(lái)梳理一下過(guò)去的一個(gè)月，業(yè)內(nèi)都有哪些值得關(guān)注的熱點(diǎn)。

2021-06-04 11:16:00
查看詳情
馬來(lái)西亞管控延長(zhǎng)，被動(dòng)元件又懸了？

自五月以來(lái)，馬來(lái)西亞疫情不斷升溫，每日新增確診高峰曾突破9000例。嚴(yán)峻形勢(shì)之下，馬來(lái)西亞政府于6月1日開始執(zhí)行為期半個(gè)月的全面行動(dòng)管制。在這之后，每日新增病例呈現(xiàn)下降趨勢(shì)。

2021-06-18 15:41:07
查看詳情
內(nèi)存市場(chǎng)翻轉(zhuǎn)，漲價(jià)來(lái)襲！

據(jù)媒體近日?qǐng)?bào)道，內(nèi)存正在重回漲價(jià)模式，從去年12月到今年1月，漲幅最多的品種已達(dá)30%。據(jù)行情網(wǎng)站數(shù)據(jù)，各類內(nèi)存條、內(nèi)存顆粒在12月上旬起開始漲價(jià)，至今仍沒有停止的意思。

2021-03-05 10:53:00
查看詳情
被動(dòng)元件漲價(jià)啟動(dòng)，MLCC和芯片打頭陣

據(jù)臺(tái)媒近日?qǐng)?bào)道，MLCC兩大原廠三星電機(jī)和TDK近期對(duì)一線組裝廠客戶發(fā)出通知，強(qiáng)調(diào)高容MLCC供貨緊張，即將對(duì)其調(diào)漲報(bào)價(jià)。在芯片電阻市場(chǎng)，臺(tái)廠國(guó)巨正式宣布從三月起漲價(jià)15-25%。緊接著，華新科也對(duì)代理商發(fā)出漲價(jià)通知，新訂單將調(diào)漲10-15%。

2021-03-05 10:52:00
查看詳情
深圳福田海關(guān)查獲大批侵權(quán)電路板，共計(jì)超過(guò)39萬(wàn)個(gè)

據(jù)海關(guān)總署微信平臺(tái)“海關(guān)發(fā)布”10日發(fā)布的消息，經(jīng)品牌權(quán)利人確認(rèn)，深圳海關(guān)所屬福田海關(guān)此前在貨運(yùn)出口渠道查獲的一批共計(jì)391500個(gè)印刷電路板，侵犯了UL公司的“RU”商標(biāo)專用權(quán)。

2021-03-05 11:12:00
查看詳情
可靠性測(cè)試：常規(guī)的可靠性項(xiàng)目及類型介紹

可靠性試驗(yàn)是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性調(diào)查、分析和評(píng)價(jià)的一種手段。試驗(yàn)結(jié)果為故障分析、研究采取的糾正措施、判斷產(chǎn)品是否達(dá)到指標(biāo)要求提供依據(jù)。根據(jù)可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)所采用的方法和目的，可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)可以分為可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)和可靠性測(cè)定試驗(yàn)。可靠性測(cè)定試驗(yàn)是為測(cè)定可靠性特性或其量值而做的試驗(yàn)，通常用來(lái)提供可靠性數(shù)據(jù)?？煽啃则?yàn)證試驗(yàn)是用來(lái)驗(yàn)證設(shè)備的可靠性特征值是否符合其規(guī)定的可靠性要求的試驗(yàn)，一般將可靠性鑒定和驗(yàn)收試驗(yàn)統(tǒng)稱為可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)。

2021-04-26 16:17:00
查看詳情
產(chǎn)品進(jìn)行可靠性測(cè)試的重要性及目的

產(chǎn)品在一定時(shí)間或條件下無(wú)故障地執(zhí)行指定功能的能力或可能性?？赏ㄟ^(guò)可靠度、失效率還有平均無(wú)故障間隔等來(lái)評(píng)價(jià)產(chǎn)品的可靠性。而且這是一項(xiàng)重要的質(zhì)量指標(biāo)，只是定性描述就顯得不夠，必須使之?dāng)?shù)量化，這樣才能進(jìn)行精確的描述和比較。

2021-04-26 16:19:00
查看詳情
匯總：半導(dǎo)體失效分析測(cè)試的詳細(xì)步驟

失效分析是芯片測(cè)試重要環(huán)節(jié)，無(wú)論對(duì)于量產(chǎn)樣品還是設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)亦或是客退品，失效分析可以幫助降低成本，縮短周期。 常見的失效分析方法有Decap，X-RAY，IV，EMMI，F(xiàn)IB，SEM，EDX，Probe，OM，RIE等，因?yàn)槭Х治鲈O(shè)備昂貴，大部分需求單位配不了或配不齊需要的設(shè)備，因此借用外力，使用對(duì)外開放的資源，來(lái)完成自己的分析也是一種很好的選擇。我們選擇去外面測(cè)試時(shí)需要準(zhǔn)備的信息有哪些呢？下面為大家整理一下：

2021-04-26 16:29:00
查看詳情
芯片常用失效分析手段和流程

一般來(lái)說(shuō)，集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過(guò)程中失效不可避免，隨著人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高，失效分析工作也顯得越來(lái)越重要，通過(guò)芯片失效分析，可以幫助集成電路設(shè)計(jì)人員找到設(shè)計(jì)上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設(shè)計(jì)與操作中的不當(dāng)?shù)葐?wèn)題。芯片失效分析的常用方法不外乎那幾個(gè)流程，最重要的還是要借助于各種先進(jìn)精確的電子儀器。以下內(nèi)容主要從這兩個(gè)方面闡述，希望對(duì)大家有所幫助。

2021-04-26 16:41:00
查看詳情
值得借鑒！PCB板可靠性測(cè)試方法分享

PCB電路板是電子元件的基礎(chǔ)和高速公路，又稱印刷電路板，是電子元器件電氣連接的提供者。它的發(fā)展已有100多年的歷史了；它的設(shè)計(jì)主要是版圖設(shè)計(jì)；采用電路板的主要優(yōu)點(diǎn)是大大減少布線和裝配的差錯(cuò)，提高了自動(dòng)化水平和生產(chǎn)勞動(dòng)率。PCB的質(zhì)量非常關(guān)鍵，要檢查PCB的質(zhì)量，必須進(jìn)行多項(xiàng)可靠性測(cè)試。這篇文章就是對(duì)測(cè)試的介紹，一起來(lái)看看吧。

2021-04-26 16:47:42
查看詳情
熱門文章
熱門標(biāo)簽