xrf在現(xiàn)代環(huán)境分析中的主要應(yīng)用

日期:2022-04-15 16:52:33 瀏覽量:1299 標(biāo)簽: xrf XRF測(cè)試

XRF測(cè)試作為常用測(cè)試之一,人們通常把X射線照射在物質(zhì)上而產(chǎn)生的次級(jí)X射線叫X射線熒光(X—Ray Fluorescence),而把用來照射的X射線叫原級(jí)X射線。所以X射線熒光仍是X射線。

一臺(tái)典型的X射線熒光(XRF)儀器由激發(fā)源(X射線管)和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),激發(fā)被測(cè)樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后,儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。X射線照在物質(zhì)上而產(chǎn)生的次級(jí) X射線被稱為X射線熒光。

xrf在現(xiàn)代環(huán)境分析中的主要應(yīng)用

利用X射線熒光原理,理論上可以測(cè)量元素周期表中的每一種元素。在實(shí)際應(yīng)用中,有效的元素測(cè)量范圍為11號(hào)元素 (Na)到92號(hào)元素(U)。

(1)XRF 在礦物加工領(lǐng)域中的應(yīng)用

X 射線熒光光譜分析法在鎢礦檢測(cè)中具有準(zhǔn)確性好, 精密度高的優(yōu)點(diǎn)。在選礦廠浮選生產(chǎn)過程中, XRF 主要用于在線監(jiān)測(cè)礦漿中重要元素的含量。在國(guó)內(nèi),選礦生產(chǎn)過程中主要兩種類型的在線(載流) 品位分析儀: 一是以芬蘭奧托昆普(OUTOKUMPU )的庫里厄系列( Courier 產(chǎn)品)為代表的載流品位分析儀和西北礦冶研究院研制的 BYF100-Ⅲ型載流 XRF ,這些分析儀屬于波長(zhǎng)色散類型;二是以馬鞍山礦山研究院的 WDPF 型為代表的在線品位分析儀,該分析儀屬于能量色散類型。

(2)文物保護(hù)與考古中能量色散型X熒光光譜儀的應(yīng)用

考古研究中,應(yīng)用X射線熒光光譜分析,可以測(cè)定古代遺物中的成分,從而達(dá)到各種分析目的,了解當(dāng)時(shí)的人類社會(huì)文化。X射線熒光光譜分析主要應(yīng)用于鑒定古代遺物的年代、真?zhèn)?、產(chǎn)地和制作工藝等。

(3)XRF在地質(zhì)學(xué)中的應(yīng)用

隨著地質(zhì)學(xué)研究的更深入、更具體,傳統(tǒng)的地質(zhì)調(diào)查已經(jīng)不能滿足當(dāng)下的研究需求,精確度更高、準(zhǔn)確度更強(qiáng)、靈敏度更好的現(xiàn)代測(cè)試分析技術(shù)在地學(xué)研究工作中的重要性越來越突出。作為一種實(shí)用性好、適用范圍廣、測(cè)試分析成本相對(duì)低的基礎(chǔ)測(cè)試方法, X射線衍射分析已經(jīng)成為一種必不可少的手段,應(yīng)用在地學(xué)領(lǐng)域的各方各面,如巖石學(xué)、礦物學(xué)、礦床學(xué)、構(gòu)造學(xué)等。 

以上就是關(guān)于XRF環(huán)境應(yīng)用的幾個(gè)方面,此外XRF還可以在瞬間辨別出土壤中重金屬極低的百萬分率含量,在開發(fā)或整修學(xué)校、住宅、游樂場(chǎng)及運(yùn)動(dòng)場(chǎng)以前,XRF是有助于保障環(huán)境安全的重要工具。在對(duì)建筑物及舊房屋進(jìn)行翻修、重建、恢復(fù)及涂漆的過程中,XRF可以迅速探測(cè)出土壤和塵埃、建筑物表面、含鉛顏料中的鉛元素,從而有助于減少在分析工程是否符合環(huán)境管理規(guī)定的過程中所耗用的資金和時(shí)間。

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