電子產(chǎn)品壽命試驗(yàn)（life test）-可靠性測試

可靠性試驗(yàn)是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性調(diào)查、分析和評(píng)價(jià)的一種手段。評(píng)價(jià)、分析產(chǎn)品壽命特征的試驗(yàn)稱為壽命試驗(yàn)，它是可靠性鑒定與驗(yàn)收試驗(yàn)中最重要的一類試驗(yàn)。壽命試驗(yàn)可以分為貯存壽命試驗(yàn)、工作壽命試驗(yàn)、加速壽命試驗(yàn)。通過壽命試驗(yàn)可以了解產(chǎn)品壽命的特征和失效規(guī)律，計(jì)算出產(chǎn)品的平均壽命與失效率等可靠性指標(biāo)，以便作為可靠性設(shè)計(jì)、可靠性預(yù)測、改進(jìn)產(chǎn)品質(zhì)量的重要依據(jù)。 

壽命試驗(yàn)是在實(shí)驗(yàn)室條件下，模擬實(shí)際工作狀況而進(jìn)行的試驗(yàn)。雖然這種模擬尚存在著一定的近似性，但試驗(yàn)結(jié)果卻有很大的參考價(jià)值。這種試驗(yàn)不但可以用來考核零部件及結(jié)構(gòu)的可靠性、材料以及制造工藝的合理性，還可以鑒定和改進(jìn)產(chǎn)品的質(zhì)量。根據(jù)可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)所采用的方法和目的，可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)可以分為可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)和可靠性測定試驗(yàn)。可靠性測定試驗(yàn)是為測定可靠性特性或其量值而做的試驗(yàn)，通常用來提供可靠性數(shù)據(jù)?？煽啃则?yàn)證試驗(yàn)是用來驗(yàn)證設(shè)備的可靠性特征值是否符合其規(guī)定的可靠性要求的試驗(yàn)，一般將可靠性鑒定和驗(yàn)收試驗(yàn)統(tǒng)稱為可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)。

1.以環(huán)境條件來劃分，可分為包括各種應(yīng)力條件下的模擬試驗(yàn)和現(xiàn)場試驗(yàn)；

2.以試驗(yàn)項(xiàng)目劃分，可分為環(huán)境試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、加速試驗(yàn)和各種特殊試驗(yàn)；

3.以試驗(yàn)?zāi)康膩韯澐?，則可分為篩選試驗(yàn)、鑒定試驗(yàn)和驗(yàn)收試驗(yàn)；

4.以試驗(yàn)性質(zhì)來劃分，也可分為破壞性試驗(yàn)和非破壞性試驗(yàn)兩大類；

5.但通常慣用的分類法，是把它歸納為五大類：環(huán)境試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、篩選試驗(yàn)、現(xiàn)場使用試驗(yàn)。

壽命試驗(yàn)又細(xì)分成不同的分類（見下圖）

概括來說，壽命試驗(yàn)的目的有三點(diǎn)：

1、弄清產(chǎn)品的壽命分布

通過壽命試驗(yàn)找出零部件或產(chǎn)品的壽命分布，這對(duì)設(shè)計(jì)和應(yīng)用都有重要意義。例如軸承的壽命服從威布爾分布；電子元件的壽命一般符合對(duì)數(shù)正態(tài)分布和威布爾分布；合金鋼的高溫持久壽命服從對(duì)數(shù)正態(tài)分布；由大量電子元件組成的系統(tǒng)則服從指數(shù)分布等。

2、求得產(chǎn)品的各項(xiàng)可靠性指標(biāo)

通過壽命試驗(yàn)，可以求得產(chǎn)品的失效率、失效密度、失效概率、可靠度、平均壽命、壽命方差等指標(biāo)，由此可以評(píng)價(jià)產(chǎn)品的質(zhì)量。

3、研究產(chǎn)品的失效機(jī)理

通過壽命試驗(yàn)可以找出產(chǎn)品失效的原因，并在此基礎(chǔ)上建立產(chǎn)品失效的物理和數(shù)學(xué)模型，弄清其失效機(jī)理，并能用模型進(jìn)行理論預(yù)測工作。

壽命試驗(yàn)在可靠性試驗(yàn)中作用

壽命試驗(yàn)是可靠性試驗(yàn)中最重要、最基本的內(nèi)容之一。它是將樣品放在特走的試驗(yàn)條件下， DAC8550IBDGKRG4測量其失效（損耗）的數(shù)量隨時(shí)間的分布情況。因?yàn)槭前聪群蟠涡虺霈F(xiàn)的，所以可利用次序統(tǒng)計(jì)量理論來分析壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù)，從而可以確定產(chǎn)品的壽命特征、失效分布規(guī)律，計(jì)算產(chǎn)品的失效率和平均壽命等可靠性指標(biāo)。此外，還可以從中確定產(chǎn)品合理的可靠性篩選工藝及條件，進(jìn)一步改進(jìn)保證產(chǎn)品質(zhì)量的依據(jù)。

有效的壽命測試項(xiàng)目

高加速壽命試驗(yàn)（HALT）和加速壽命試驗(yàn)（ALT）是產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)中運(yùn)用的最有效的兩種可靠性試驗(yàn)技術(shù)。高加速壽命試驗(yàn)適合用于發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)缺陷，確定失效機(jī)理，描述產(chǎn)品裕度。當(dāng)主要失效機(jī)理不是由于耗損原因引起時(shí)，最好用高加速壽命試驗(yàn)。而加速壽命試驗(yàn)適用于描述由磨損造成的失效機(jī)理，通常用來檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)在超出用戶預(yù)期和超出擔(dān)保期的情況下產(chǎn)生的失效情況。

在多數(shù)情況下，這兩種方法最好結(jié)合起來使用。因?yàn)槊糠N方法適用于揭示不同類型的失效機(jī)理。兩種方法的適當(dāng)結(jié)合，為產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)提供了一套完整全面的試驗(yàn)手段。

高加速壽命試驗(yàn)（HALT）是由美國Hobbs工程公司總裁GreggKHobbs博士首先提出來的。從90年代開始，HALT獲得推廣應(yīng)用。HALT的最大特點(diǎn)是時(shí)間上的壓縮，即在短短的幾天內(nèi)模擬一個(gè)產(chǎn)品的整個(gè)壽命期間可能遇到的情況。

壽命試驗(yàn)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

GB2689.1-81恒定應(yīng)力壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)方法總則

GB2689.2-81壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)的圖估計(jì)法（用于威布爾分布）

GB2689.3-81壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)的簡單線性無偏估計(jì)法（用于威布爾分布）

GB2689.4-81壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)的最好線性無偏估計(jì)法（用于威布爾分布）

壽命試驗(yàn)是研究產(chǎn)品壽命特征的方法，這種方法可在實(shí)驗(yàn)室模擬各種使用條件來進(jìn)行。壽命試驗(yàn)是可靠性試驗(yàn)中最重要最基本的項(xiàng)目之一，它是將產(chǎn)品放在特定的試驗(yàn)條件下考察其失效（損壞）隨時(shí)間變化規(guī)律。通過壽命試驗(yàn)，可以了解產(chǎn)品的壽命特征、失效規(guī)律、失效率、平均壽命以及在壽命試驗(yàn)過程中可能出現(xiàn)的各種失效模式。如結(jié)合失效分析，可進(jìn)一步弄清導(dǎo)致產(chǎn)品失效的主要失效機(jī)理，作為可靠性設(shè)計(jì)、可靠性預(yù)測、改進(jìn)新產(chǎn)品質(zhì)量和確定合理的篩選、例行（批量保證）試驗(yàn)條件等的依據(jù)。