電子芯片損壞的原因都有哪些?測(cè)量芯片好壞的方法

日期:2022-03-02 17:18:00 瀏覽量:3451 標(biāo)簽: 芯片

芯片是在電子學(xué)中一種將電路小型化的方式,并且時(shí)常制造在半導(dǎo)體晶圓表面上,另外在通信和網(wǎng)絡(luò)這樣的領(lǐng)域中,芯片也得到了廣泛運(yùn)用。那么芯片損壞的原因一般是由于什么導(dǎo)致的呢?

電子芯片損壞的原因都有哪些?測(cè)量芯片好壞的方法

(1)供電電壓

看到這里你也許就笑了,我系統(tǒng)板上的芯片供電是LDO輸出的,穩(wěn)定的很,怎么會(huì)燒芯片。這就要從芯片燒寫(xiě)程序的兩種方式說(shuō)起:在板燒錄和座燒。

對(duì)于個(gè)人用戶或是某些特定的行業(yè),如汽車(chē)電子,大部分都是用在板燒錄。

另一種方式工廠批量生產(chǎn)用的比較多,即座燒的方式。

對(duì)于很多開(kāi)發(fā)板或者我們自己設(shè)計(jì)的系統(tǒng)板,調(diào)試接口的VCC一般都是直接從芯片供電引腳拉出,如果編程器供電不穩(wěn),則很容易造成芯片的過(guò)壓損壞。

(2)芯片加密

一般的開(kāi)發(fā)者很容易忽略芯片為我們提供的這個(gè)重要功能,但是當(dāng)你的產(chǎn)品要大賣(mài)的時(shí)候,這個(gè)功能就顯得尤為重要了,加密功能有效防止你的產(chǎn)品代碼被抄襲。

(3)編程高壓

有些OTP(一次性編程)芯片可能需要編程高壓才能將數(shù)據(jù)寫(xiě)入,雖說(shuō)是高壓,其實(shí)很多也就6,7V左右,再高也就幾十伏,這種程度的電壓對(duì)于人體來(lái)說(shuō)比較安全,但對(duì)于很多芯片來(lái)說(shuō),已經(jīng)算是高壓了,即使是需要這種電壓才能編程的一些OTP芯片,也無(wú)法長(zhǎng)時(shí)間承受,因此有些芯片會(huì)規(guī)定高壓加載的最長(zhǎng)時(shí)間,一旦超過(guò)這個(gè)極限,OTP區(qū)就可能會(huì)永久損壞。

此外,還有很多其他的因素會(huì)損壞你的芯片,比如靜電防護(hù)是否做得到位,芯片存儲(chǔ)的濕度,溫度是否符合要求,芯片焊接的溫度是否過(guò)高等,要提高燒寫(xiě)的良品率,就要從多個(gè)方面做工作,當(dāng)然也不可忽略以上這些不易引起注意的細(xì)節(jié)。

測(cè)量芯片好壞方法

真實(shí)性檢驗(yàn),通過(guò)化學(xué)腐蝕及物理顯微觀察等方法,來(lái)檢驗(yàn)鑒定器件是否為原半導(dǎo)體廠商的器件。

直流特性參數(shù)測(cè)試,通過(guò)專用的IC測(cè)試機(jī)臺(tái)來(lái)測(cè)量記錄器件的直流特性參數(shù),并比較分析器件的性能參數(shù),又稱靜態(tài)度測(cè)試法。

關(guān)鍵功能檢測(cè)驗(yàn)證,根據(jù)原廠器件產(chǎn)品的說(shuō)明或應(yīng)用筆記或者終端客戶的應(yīng)用電路,評(píng)估設(shè)計(jì)出可行性專用測(cè)試電路,通過(guò)外圍電路或端口,施加相應(yīng)的有效激勵(lì)給輸入PIN腳,再通過(guò)外圍電路的調(diào)節(jié)控制、信號(hào)放大或轉(zhuǎn)換匹配等,使用通用的測(cè)量?jī)x器或指示形式,來(lái)檢測(cè)驗(yàn)證器件的主要功能是否正常。

全部功能及特性參數(shù)測(cè)試,根據(jù)原廠提供的測(cè)試向量或自己仿真編寫(xiě)的測(cè)試向量,使用IC測(cè)試機(jī)臺(tái)來(lái)測(cè)試驗(yàn)證器件的直流特性參數(shù)、器件的所有功能或工作運(yùn)行的狀態(tài),但不包括AC參數(shù)特性的驗(yàn)證分析。換句話說(shuō),完全囊括了級(jí)別II和級(jí)別III的測(cè)試項(xiàng)目。

交流參數(shù)測(cè)試及分析,在順利完成了級(jí)別V之后,且所有的測(cè)試項(xiàng)目都符合標(biāo)準(zhǔn),為了進(jìn)一步驗(yàn)證器件信號(hào)傳輸?shù)奶匦詤?shù),及邊沿特性、而進(jìn)行AC參數(shù)的測(cè)試。

用萬(wàn)用表測(cè)量芯片的好壞

如果壞的話最常見(jiàn)的也是擊穿損壞,你可以用萬(wàn)用表測(cè)量一下芯片的供電端對(duì)地的電阻或電壓,一般如果在幾十歐姆之內(nèi)或供電電壓比正常值低,大部分可以視為擊穿損壞了,可以斷開(kāi)供電端,單獨(dú)測(cè)量一下供電是否正常。如果測(cè)得的電阻較大,那很可能是其他端口損壞,也可以逐一測(cè)量一下其他端口??词欠裼袑?duì)地短路的端口。

專門(mén)具有檢測(cè)IC的儀器,萬(wàn)用表沒(méi)有這個(gè)能力。一般使用萬(wàn)用表都是檢測(cè)使用時(shí)的引腳電壓做大約的判斷,沒(méi)有可靠性。并且是在對(duì)于這款I(lǐng)C極其熟悉條件下做判斷。


微信掃碼關(guān)注 CXOlab創(chuàng)芯在線檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室
相關(guān)閱讀
五月芯資訊回顧:原廠漲價(jià)函不斷,疫情影響供應(yīng)鏈

剛剛過(guò)去的五月,全球多地疫情反彈,大宗商品漲價(jià)延續(xù),IC產(chǎn)業(yè)鏈毫無(wú)意外,缺貨漲價(jià)仍是主旋律。下面就來(lái)梳理一下過(guò)去的一個(gè)月,業(yè)內(nèi)都有哪些值得關(guān)注的熱點(diǎn)。

2021-06-04 11:16:00
查看詳情
馬來(lái)西亞管控延長(zhǎng),被動(dòng)元件又懸了?

自五月以來(lái),馬來(lái)西亞疫情不斷升溫,每日新增確診高峰曾突破9000例。嚴(yán)峻形勢(shì)之下,馬來(lái)西亞政府于6月1日開(kāi)始執(zhí)行為期半個(gè)月的全面行動(dòng)管制。在這之后,每日新增病例呈現(xiàn)下降趨勢(shì)。

2021-06-18 15:41:07
查看詳情
內(nèi)存市場(chǎng)翻轉(zhuǎn),漲價(jià)來(lái)襲!

據(jù)媒體近日?qǐng)?bào)道,內(nèi)存正在重回漲價(jià)模式,從去年12月到今年1月,漲幅最多的品種已達(dá)30%。據(jù)行情網(wǎng)站數(shù)據(jù),各類(lèi)內(nèi)存條、內(nèi)存顆粒在12月上旬起開(kāi)始漲價(jià),至今仍沒(méi)有停止的意思。

2021-03-05 10:53:00
查看詳情
被動(dòng)元件漲價(jià)啟動(dòng),MLCC和芯片打頭陣

據(jù)臺(tái)媒近日?qǐng)?bào)道,MLCC兩大原廠三星電機(jī)和TDK近期對(duì)一線組裝廠客戶發(fā)出通知,強(qiáng)調(diào)高容MLCC供貨緊張,即將對(duì)其調(diào)漲報(bào)價(jià)。在芯片電阻市場(chǎng),臺(tái)廠國(guó)巨正式宣布從三月起漲價(jià)15-25%。緊接著,華新科也對(duì)代理商發(fā)出漲價(jià)通知,新訂單將調(diào)漲10-15%。

2021-03-05 10:52:00
查看詳情
深圳福田海關(guān)查獲大批侵權(quán)電路板,共計(jì)超過(guò)39萬(wàn)個(gè)

據(jù)海關(guān)總署微信平臺(tái)“海關(guān)發(fā)布”10日發(fā)布的消息,經(jīng)品牌權(quán)利人確認(rèn),深圳海關(guān)所屬福田海關(guān)此前在貨運(yùn)出口渠道查獲的一批共計(jì)391500個(gè)印刷電路板,侵犯了UL公司的“RU”商標(biāo)專用權(quán)。

2021-03-05 11:12:00
查看詳情
可靠性測(cè)試:常規(guī)的可靠性項(xiàng)目及類(lèi)型介紹

可靠性試驗(yàn)是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性調(diào)查、分析和評(píng)價(jià)的一種手段。試驗(yàn)結(jié)果為故障分析、研究采取的糾正措施、判斷產(chǎn)品是否達(dá)到指標(biāo)要求提供依據(jù)。根據(jù)可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)所采用的方法和目的,可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)可以分為可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)和可靠性測(cè)定試驗(yàn)。可靠性測(cè)定試驗(yàn)是為測(cè)定可靠性特性或其量值而做的試驗(yàn),通常用來(lái)提供可靠性數(shù)據(jù)??煽啃则?yàn)證試驗(yàn)是用來(lái)驗(yàn)證設(shè)備的可靠性特征值是否符合其規(guī)定的可靠性要求的試驗(yàn),一般將可靠性鑒定和驗(yàn)收試驗(yàn)統(tǒng)稱為可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)。

2021-04-26 16:17:00
查看詳情
產(chǎn)品進(jìn)行可靠性測(cè)試的重要性及目的

產(chǎn)品在一定時(shí)間或條件下無(wú)故障地執(zhí)行指定功能的能力或可能性??赏ㄟ^(guò)可靠度、失效率還有平均無(wú)故障間隔等來(lái)評(píng)價(jià)產(chǎn)品的可靠性。而且這是一項(xiàng)重要的質(zhì)量指標(biāo),只是定性描述就顯得不夠,必須使之?dāng)?shù)量化,這樣才能進(jìn)行精確的描述和比較。

2021-04-26 16:19:00
查看詳情
匯總:半導(dǎo)體失效分析測(cè)試的詳細(xì)步驟

失效分析是芯片測(cè)試重要環(huán)節(jié),無(wú)論對(duì)于量產(chǎn)樣品還是設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)亦或是客退品,失效分析可以幫助降低成本,縮短周期。 常見(jiàn)的失效分析方法有Decap,X-RAY,IV,EMMI,F(xiàn)IB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,因?yàn)槭Х治鲈O(shè)備昂貴,大部分需求單位配不了或配不齊需要的設(shè)備,因此借用外力,使用對(duì)外開(kāi)放的資源,來(lái)完成自己的分析也是一種很好的選擇。我們選擇去外面測(cè)試時(shí)需要準(zhǔn)備的信息有哪些呢?下面為大家整理一下:

2021-04-26 16:29:00
查看詳情
芯片常用失效分析手段和流程

一般來(lái)說(shuō),集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過(guò)程中失效不可避免,隨著人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來(lái)越重要,通過(guò)芯片失效分析,可以幫助集成電路設(shè)計(jì)人員找到設(shè)計(jì)上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設(shè)計(jì)與操作中的不當(dāng)?shù)葐?wèn)題。芯片失效分析的常用方法不外乎那幾個(gè)流程,最重要的還是要借助于各種先進(jìn)精確的電子儀器。以下內(nèi)容主要從這兩個(gè)方面闡述,希望對(duì)大家有所幫助。

2021-04-26 16:41:00
查看詳情
值得借鑒!PCB板可靠性測(cè)試方法分享

PCB電路板是電子元件的基礎(chǔ)和高速公路,又稱印刷電路板,是電子元器件電氣連接的提供者。它的發(fā)展已有100多年的歷史了;它的設(shè)計(jì)主要是版圖設(shè)計(jì);采用電路板的主要優(yōu)點(diǎn)是大大減少布線和裝配的差錯(cuò),提高了自動(dòng)化水平和生產(chǎn)勞動(dòng)率。PCB的質(zhì)量非常關(guān)鍵,要檢查PCB的質(zhì)量,必須進(jìn)行多項(xiàng)可靠性測(cè)試。這篇文章就是對(duì)測(cè)試的介紹,一起來(lái)看看吧。

2021-04-26 16:47:42
查看詳情