Mos管(場(chǎng)效應(yīng)管)失效分析知識(shí)點(diǎn)詳解

日期:2022-01-10 13:47:26 瀏覽量:3386 標(biāo)簽: Mos管 場(chǎng)效應(yīng)管失效分析 失效分析

MOS管做為電壓驅(qū)動(dòng)大電流型器件,在電路尤其是動(dòng)力系統(tǒng)中大量應(yīng)用,MOS管有一些特性在實(shí)際應(yīng)用中是我們應(yīng)該特別注意的。

MOS管體二極管,又稱寄生二極管,在單個(gè)MOS管器件中有,在集成電路光刻中沒(méi)有,這個(gè)二極管在大電流驅(qū)動(dòng)中和感性負(fù)載時(shí)可以起到反向保護(hù)和續(xù)流的作用,一般正向?qū)▔航翟?.7~1V左右,因?yàn)檫@個(gè)二極管的存在,MOS器件在電路中不能簡(jiǎn)單地看到一個(gè)開(kāi)關(guān)的作用,比如充電電路中,充電完成,移除電源后,電池會(huì)反向向外部供電,這個(gè)通常是我們不愿意看到的結(jié)果,一般解決的方法是在后面增加一個(gè)二極管來(lái)防止反向供電,這樣雖然可以做到,但是二極管的特性決定必須有0.6~1V的正向壓降,在大電流的情況下發(fā)熱嚴(yán)重,同時(shí)造成能源的浪費(fèi),使整機(jī)能效低下。還有一個(gè)方法是再增加一個(gè)背靠背的MOS管,利用MOS管低導(dǎo)通電阻來(lái)達(dá)到節(jié)能的目的,這一特性另一個(gè)常見(jiàn)的應(yīng)用為低壓同步整流。

MOS失效原因:

1、雪崩失效(電壓失效),也就是我們常說(shuō)的漏源間的BVdss電壓超過(guò)MOSFET的額定電壓,并且超過(guò)達(dá)到了一定的能力從而導(dǎo)致MOSFET失效。

2、SOA失效(電流失效),即超出MOSFET安全工作區(qū)引起失效,分為Id超出器件規(guī)格失效以及Id過(guò)大,損耗過(guò)高器件長(zhǎng)時(shí)間熱積累而導(dǎo)致的失效。

3、體二極管失效:在橋式、LLC等有用到體二極管進(jìn)行續(xù)流的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)中,由于體二極管遭受破壞而導(dǎo)致的失效。

4、諧振失效:在并聯(lián)使用的過(guò)程中,柵極及電路寄生參數(shù)導(dǎo)致震蕩引起的失效。

5、靜電失效:在秋冬季節(jié),由于人體及設(shè)備靜電而導(dǎo)致的器件失效。

6、柵極電壓失效:由于柵極遭受異常電壓尖峰,而導(dǎo)致柵極柵氧層失效。

具體分析如下:

1)雪崩失效分析(電壓失效)

到底什么是雪崩失效呢,簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)MOSFET在電源板上由于母線電壓、變壓器反射電壓、漏感尖峰電壓等等系統(tǒng)電壓疊加在MOSFET漏源之間,導(dǎo)致的一種失效模式。簡(jiǎn)而言之就是由于就是MOSFET漏源極的電壓超過(guò)其規(guī)定電壓值并達(dá)到一定的能量限度而導(dǎo)致的一種常見(jiàn)的失效模式。

下面的圖片為雪崩測(cè)試的等效原理圖,作為電源工程師可以簡(jiǎn)單了解下。

Mos管(場(chǎng)效應(yīng)管)失效分析知識(shí)點(diǎn)詳解

可能我們經(jīng)常要求器件生產(chǎn)廠家對(duì)我們電源板上的MOSFET進(jìn)行失效分析,大多數(shù)廠家都僅僅給一個(gè)EAS.EOS之類(lèi)的結(jié)論,那么到底我們?cè)趺磪^(qū)分是否是雪崩失效呢,下面是一張經(jīng)過(guò)雪崩測(cè)試失效的器件圖,我們可以進(jìn)行對(duì)比從而確定是否是雪崩失效。

雪崩失效的預(yù)防措施

雪崩失效歸根結(jié)底是電壓失效,因此預(yù)防我們著重從電壓來(lái)考慮。具體可以參考以下的方式來(lái)處理。

1:合理降額使用,目前行業(yè)內(nèi)的降額一般選取80%-95%的降額,具體情況根據(jù)企業(yè)的保修條款及電路關(guān)注點(diǎn)進(jìn)行選取。

2:合理的變壓器反射電壓。

3:合理的RCD及TVS吸收電路設(shè)計(jì)。

4:大電流布線盡量采用粗、短的布局結(jié)構(gòu),盡量減少布線寄生電感。

5:選擇合理的柵極電阻Rg。

6:在大功率電源中,可以根據(jù)需要適當(dāng)?shù)募尤隦C減震或齊納二極管進(jìn)行吸收。

2)SOA失效(電流失效)

再簡(jiǎn)單說(shuō)下第二點(diǎn),SOA失效

SOA失效是指電源在運(yùn)行時(shí)異常的大電流和電壓同時(shí)疊加在MOSFET上面,造成瞬時(shí)局部發(fā)熱而導(dǎo)致的破壞模式?;蛘呤切酒c散熱器及封裝不能及時(shí)達(dá)到熱平衡導(dǎo)致熱積累,持續(xù)的發(fā)熱使溫度超過(guò)氧化層限制而導(dǎo)致的熱擊穿模式。

關(guān)于SOA各個(gè)線的參數(shù)限定值可以參考下面圖片

2.jpg

1:受限于最大額定電流及脈沖電流

2:受限于最大節(jié)溫下的RDSON。

3:受限于器件最大的耗散功率。

4:受限于最大單個(gè)脈沖電流。

5:擊穿電壓BVDSS限制區(qū)

我們電源上的MOSFET,只要保證能器件處于上面限制區(qū)的范圍內(nèi),就能有效的規(guī)避由于MOSFET而導(dǎo)致的電源失效問(wèn)題的產(chǎn)生。

SOA失效的預(yù)防措施

1:確保在最差條件下,MOSFET的所有功率限制條件均在SOA限制線以內(nèi)。

2:將OCP功能一定要做精確細(xì)致。

在進(jìn)行OCP點(diǎn)設(shè)計(jì)時(shí),一般可能會(huì)取1.1-1.5倍電流余量的工程師居多,然后就根據(jù)IC的保護(hù)電壓比如0.7V開(kāi)始調(diào)試RSENSE電阻。

有些有經(jīng)驗(yàn)的人會(huì)將檢測(cè)延遲時(shí)間、CISS對(duì)OCP實(shí)際的影響考慮在內(nèi)。

但是此時(shí)有個(gè)更值得關(guān)注的參數(shù),那就是MOSFET的Td(off)。

它到底有什么影響呢,我們看下面FLYBACK電流波形圖。

3.jpg

從圖中可以看出,電流波形在快到電流尖峰時(shí),有個(gè)下跌,這個(gè)下跌點(diǎn)后又有一段的上升時(shí)間,這段時(shí)間其本質(zhì)就是IC在檢測(cè)到過(guò)流信號(hào)執(zhí)行關(guān)斷后,MOSFET本身也開(kāi)始執(zhí)行關(guān)斷,但是由于器件本身的關(guān)斷延遲,因此電流會(huì)有個(gè)二次上升平臺(tái),如果二次上升平臺(tái)過(guò)大,那么在變壓器余量設(shè)計(jì)不足時(shí),就極有可能產(chǎn)生磁飽和的一個(gè)電流沖擊或者電流超器件規(guī)格的一個(gè)失效。

3:合理的熱設(shè)計(jì)余量,這個(gè)就不多說(shuō)了,各個(gè)企業(yè)都有自己的降額規(guī)范,嚴(yán)格執(zhí)行就可以了,不行就加散熱器。

3)體二極管失效

在不同的拓?fù)?、電路中,MOSFET有不同的角色,比如在LLC中,體內(nèi)二極管的速度也是MOSFET可靠性的重要因素。漏源間的體二極管失效和漏源電壓失效很難區(qū)分,因?yàn)槎O管本身屬于寄生參數(shù)。雖然失效后難以區(qū)分軀體緣由,但是預(yù)防電壓及二極管失效的解決辦法存在較大差異,主要結(jié)合自己電路來(lái)分析。

體二極管失效預(yù)防措施

其實(shí)有那個(gè)體二極管,在大部分時(shí)候都不礙事,而且有時(shí)候還有好處,比如用在H橋上,省得并二極管了。當(dāng)然也有礙事的時(shí)候,那就用兩個(gè)MOS管頭頂頭或者尾對(duì)尾串聯(lián)起來(lái)就可以了。

那個(gè)二極管是工藝決定的,也不必太在意,接受它的存在就好了。還有,多說(shuō)兩句,其實(shí)MOS管的D和S本質(zhì)上是對(duì)稱的結(jié)構(gòu),只是溝道的兩個(gè)接點(diǎn)。但是由于溝道的開(kāi)啟和關(guān)閉涉及到柵極和襯底之間的電場(chǎng),那么就需要給襯底一個(gè)確定的電位。又因?yàn)镸OS管只有3個(gè)管腳,所以需要把襯底接到另外兩個(gè)管腳之一。那么接了襯底的管腳就是S了,沒(méi)接襯底的管腳就是D,我們應(yīng)用時(shí),S的電位往往是穩(wěn)定的。在集成電路中,比如CMOS中或者還有模擬開(kāi)關(guān)中,由于芯片本身有電源管腳,所以那些MOS管的襯底并不和管腳接在一起,而是直接接到電源的VCC或者VEE,這時(shí)候D和S就沒(méi)有任何區(qū)別了。

4)諧振失效

在并聯(lián)功率MOS FET時(shí)未插入柵極電阻而直接連接時(shí)發(fā)生的柵極寄生振蕩。高速反復(fù)接通、斷開(kāi)漏極-源極電壓時(shí),在由柵極-漏極電容Cgd(Crss)和柵極引腳電感Lg形成的諧振電路上發(fā)生此寄生振蕩。當(dāng)諧振條件(ωL=1/ωC)成立時(shí),在柵極-源極間外加遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于驅(qū)動(dòng)電壓Vgs(in)的振動(dòng)電壓,由于超出柵極-源極間額定電壓導(dǎo)致柵極破壞,或者接通、斷開(kāi)漏極-源極間電壓時(shí)的振動(dòng)電壓通過(guò)柵極-漏極電容Cgd和Vgs波形重疊導(dǎo)致正向反饋,因此可能會(huì)由于誤動(dòng)作引起振蕩破壞。

諧振失效預(yù)防措施

電阻可以抑制振蕩, 是因?yàn)樽枘岬淖饔?。但柵極串接一個(gè)小電阻, 并非解決振蕩阻尼問(wèn)題. 主要還是驅(qū)動(dòng)電路阻抗匹配的原因, 和調(diào)節(jié)功率管開(kāi)關(guān)時(shí)間的原因。

5)靜電失效

靜電的基本物理特征為:有吸引或排斥的力量;有電場(chǎng)存在,與大地有電位差;會(huì)產(chǎn)生放電電流。這三種情形會(huì)對(duì)電子元件造成以下影響:

1.元件吸附灰塵,改變線路間的阻抗,影響元件的功能和壽命。

2.因電場(chǎng)或電流破壞元件絕緣層和導(dǎo)體,使元件不能工作(完全破壞)。

3.因瞬間的電場(chǎng)軟擊穿或電流產(chǎn)生過(guò)熱,使元件受傷,雖然仍能工作,但是壽命受損。

靜電失效的預(yù)防措施

MOS電路輸入端的保護(hù)二極管,其導(dǎo)通時(shí)電流容限一般為1mA 在可能出現(xiàn)過(guò)大瞬態(tài)輸入電流(超過(guò)10mA)時(shí),應(yīng)串接輸入保護(hù)電阻。而在初期設(shè)計(jì)時(shí)沒(méi)有加入保護(hù)電阻,所以這也是MOS管可能擊穿的原因,而通過(guò)更換一個(gè)內(nèi)部有保護(hù)電阻的MOS管應(yīng)可防止此種失效的發(fā)生。還有由于保護(hù)電路吸收的瞬間能量有限,太大的瞬間信號(hào)和過(guò)高的靜電電壓將使保護(hù)電路失去作用。所以焊接時(shí)電烙鐵必須可靠接地,以防漏電擊穿器件輸入端,一般使用時(shí),可斷電后利用電烙鐵的余熱進(jìn)行焊接,并先焊其接地管腳。

6)柵極電壓失效

柵極的異常高壓來(lái)源主要有以下3種原因:

1:在生產(chǎn)、運(yùn)輸、裝配過(guò)程中的靜電。

2:由器件及電路寄生參數(shù)在電源系統(tǒng)工作時(shí)產(chǎn)生的高壓諧振。

3:在高壓沖擊時(shí),高電壓通過(guò)Ggd傳輸?shù)綎艠O(在雷擊測(cè)試時(shí),這種原因?qū)е碌氖л^為常見(jiàn))。

至于PCB污染等級(jí)、電氣間隙及其它高壓擊穿IC后進(jìn)入柵極等現(xiàn)象就不做過(guò)多解釋。

柵極電壓失效的預(yù)防措施

柵源間的過(guò)電壓保護(hù):如果柵源間的阻抗過(guò)高,則漏源間電壓的突變會(huì)通過(guò)極間電容耦合到柵極而產(chǎn)生相當(dāng)高的UGS電壓過(guò)沖,這一電壓會(huì)引起柵極氧化層永久性損壞,如果是正方向的UGS瞬態(tài)電壓還會(huì)導(dǎo)致器件的誤導(dǎo)通。為此要適當(dāng)降低柵極驅(qū)動(dòng)電路的阻抗,在柵源之間并接阻尼電阻或并接穩(wěn)壓值約20V的穩(wěn)壓管。特別要注意防止柵極開(kāi)路工作。其次是漏極間的過(guò)電壓防護(hù)。如果電路中有電感性負(fù)載,則當(dāng)器件關(guān)斷時(shí),漏極電流的突變(di/dt)會(huì)產(chǎn)生比電源電壓高的多的漏極電壓過(guò)沖,導(dǎo)致器件損壞。應(yīng)采取穩(wěn)壓管箝位,RC箝位或RC抑制電路等保護(hù)措施。

補(bǔ)充下,MOSFET損壞主要有使用/品質(zhì)工藝兩方面原因. 使用方面:

1)靜電損壞,初期可能還像好管子一樣開(kāi)關(guān),經(jīng)過(guò)一段時(shí)間后會(huì)失效炸機(jī),GDS全短路.

2)空間等離子損傷,輕者和靜電損壞一樣,重者直接GDS短路.大家要注意啊!放MOSFET或IGBT/COMS器件的地方千萬(wàn)別用負(fù)離子發(fā)生器或有此功能的空調(diào)!

3)漏電損傷,多數(shù)情況下GDS全短路,個(gè)別會(huì)DS或GD斷路.

4)過(guò)驅(qū)動(dòng),驅(qū)動(dòng)電壓超過(guò)18V后,經(jīng)過(guò)一段時(shí)間使用會(huì)GDS全斷.

5)使用負(fù)壓關(guān)閉,柵加負(fù)壓后,MOSFET抗噪能力加強(qiáng),但DS耐壓能力下降,不適當(dāng)?shù)呢?fù)壓,會(huì)導(dǎo)致DS耐壓不夠而被擊穿損壞而GDS短路.

6)柵寄生感應(yīng)負(fù)壓損壞,和不適當(dāng)?shù)呢?fù)壓驅(qū)動(dòng)一樣,只是該負(fù)壓不是人為加上的,是由于線路寄生LC感應(yīng),在刪上感應(yīng)生成負(fù)脈沖。

以上是創(chuàng)芯檢測(cè)小編整理的Mos管(場(chǎng)效應(yīng)管)失效分析相關(guān)內(nèi)容,希望對(duì)您有所幫助。創(chuàng)芯檢測(cè)是一家電子元器件專(zhuān)業(yè)檢測(cè)機(jī)構(gòu),目前主要提供電容、電阻、連接器、MCU、CPLD、FPGA、DSP等集成電路檢測(cè)服務(wù)。專(zhuān)精于電子元器件功能檢測(cè)、電子元器件來(lái)料外觀檢測(cè)、電子元器件解剖檢測(cè)、丙酮檢測(cè) 、電子元器件X射線掃描檢測(cè)、ROHS成分分析檢測(cè) 。歡迎致電,我們將竭誠(chéng)為您服務(wù)!

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