斷裂是指金屬或合金材料或機械產(chǎn)品在力的作用下分成若干部分的現(xiàn)象。它是個動態(tài)的變化過程,包括裂紋的萌生及擴展過程。斷裂失效是指機械構(gòu)件由于斷裂而引起的機械設(shè)備產(chǎn)品不能完成原設(shè)計所的功能。 斷裂失效類型有如下幾種:
①解理斷裂失效;②韌窩破斷失效;③準解理斷裂失效;④疲勞斷裂失效;⑤蠕變斷裂失效;⑥應(yīng)力腐蝕斷裂失效;⑦沿晶斷裂失效;⑧液態(tài)或固態(tài)金屬脆性斷裂失效;⑨氫脆斷裂失效;⑩滑移分離失效等。
檢測目的:查找斷裂原因進行斷裂失效分析時,首先要了解失效分析程序。因為機械構(gòu)件多數(shù)是在運行過程中發(fā)生斷裂失效的,每當一個零部件斷裂損壞時,它和別的零部件、周圍環(huán)境和操作人員等均有著十分密切的關(guān)系。查找原因時要從設(shè)計水平、材料質(zhì)量、加工狀態(tài)、維修情況、裝配精度、工作環(huán)境、服役條件和操作方法等因素中找出造成損壞的主要原因,并根據(jù)損壞的原因、機理、類型和階段,進行分析判斷,制定出改進措施。
斷裂過程是個動態(tài)過程,對斷裂直接進行觀察分析是比較難的;而斷口是斷裂的靜態(tài)反應(yīng),如果對斷口進行仔細觀察和分析就能找出斷裂的原因、機理等。因為斷口如實地反映了機械構(gòu)件斷裂的全過程,及機械構(gòu)件裂紋的萌生與擴展過程,斷口分析是機械構(gòu)件斷裂失效分析的一個重要手段。為了取得更好的分析效果,對這一分析手段還必須輔以一系列其他的檢驗方法,如無損檢測、機械性能試驗、金相檢驗、化學分析、X射線分析、斷裂韌性試驗、電子能譜分析、模擬試驗等。最后將上述分析和試驗的結(jié)果與數(shù)據(jù)進行綜合分析,并提出改進措施,寫出失效分析報告。
SMT貼片元器件斷裂的原因:
1. 對于MLCC電容器,其結(jié)構(gòu)由多層陶瓷電容器疊置而成,因此它們的結(jié)構(gòu)較弱,強度低,具有極強的耐熱性和機械沖擊力,這在波峰焊中尤為明顯。
2. SMT貼片加工過程中,貼片機Z軸的吸放高度,特別是一些不具備Z軸軟著陸功能的貼片機,吸收高度取決于芯片元件的厚度,而不是通過壓力傳感器,因此部件厚度的公差會導(dǎo)致開裂。
3. 焊接后,如果PCB上存在翹曲應(yīng)力,則很容易引起元器件開裂。
4. 拼接中的PCB應(yīng)力也會損壞組件。
5. ICT測試期間的機械應(yīng)力導(dǎo)致設(shè)備破裂。
6. 組裝過程中的應(yīng)力會導(dǎo)致緊固螺釘周圍的MLCC損壞。
SMT貼片元器件解決方法:
1. 仔細調(diào)整焊接工藝曲線,特別是加熱速度不要太快。
2. 在放置期間,請確保適當?shù)姆胖脵C器壓力,尤其是對于厚板和金屬基板,以及陶瓷基板安裝MLCC和其他脆性器件,要特別注意。
3. 注意切刀的放置方法和形狀。
4. PCB的翹曲度,尤其是焊接后的翹曲度,應(yīng)進行專門校正,以免因大變形而引起的應(yīng)力對器件的影響。
5. 在PCB設(shè)計期間,避免MLCC和其他設(shè)備的高應(yīng)力區(qū)域。
以上便是此次創(chuàng)芯檢測帶來的“斷裂失效分析”相關(guān)內(nèi)容,希望能對大家有所幫助,我們將于后期帶來更多精彩內(nèi)容。公司檢測服務(wù)范圍涵蓋:電子元器件測試驗證、IC真假鑒別,產(chǎn)品設(shè)計選料、失效分析,功能檢測、工廠來料檢驗以及編帶等多種測試項目。歡迎致電創(chuàng)芯檢測,我們將竭誠為您服務(wù)。