為什么電子元器件要進(jìn)行老化試驗(yàn)？
日期：2021-08-10 14:29:38 瀏覽量：2040 標(biāo)簽: 電子元器件檢測
當(dāng)今，隨著科技的進(jìn)步，電子制造技術(shù)也日益發(fā)達(dá)，集成化程度越來越高，工序越來越多，結(jié)構(gòu)也越來越精細(xì)，制造工藝越來越復(fù)雜，錯(cuò)綜復(fù)雜的因素必然會(huì)導(dǎo)致在制造過程中隱藏著缺陷，作為電子產(chǎn)品競爭廠家，不斷地保證其性能的高精準(zhǔn)性，也要保證其質(zhì)量的穩(wěn)定性。因此對它進(jìn)行相關(guān)的檢驗(yàn)也是必要的，那么為什么要做老化試驗(yàn)?zāi)兀?/p>
通常這類缺陷需要在元件工作的額定功率和正常工作溫度下工作1000小時(shí)左右，才能完全激活(暴露)。很明顯，對每個(gè)部件都要測試一千個(gè)小時(shí)是不現(xiàn)實(shí)的，因此需要對它施加熱應(yīng)力和偏壓，比如進(jìn)行高溫動(dòng)力應(yīng)力試驗(yàn)，以加速這種缺陷的早期暴露。即對電子產(chǎn)品施以熱、電、機(jī)等綜合外力，模擬嚴(yán)酷的工作環(huán)境，消除加工應(yīng)力及殘留溶劑等物質(zhì)，使?jié)摲怨收咸崆鞍l(fā)生，盡快使產(chǎn)品通過失效浴盆特性初期階段，盡快使產(chǎn)品通過浴盆特性初期階段高可靠。
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經(jīng)過高溫老化可使產(chǎn)品在生產(chǎn)過程中出現(xiàn)缺陷、焊接、裝配等安全隱患提前暴露，老化后再進(jìn)行電氣參數(shù)測量，篩選出失效或變值元件，盡可能將產(chǎn)品的早期失效消滅在正常使用中，從面保證產(chǎn)品出廠的產(chǎn)品能經(jīng)得起時(shí)間考驗(yàn)。
一般而言，電子產(chǎn)品經(jīng)過生產(chǎn)制造后，已形成完整的產(chǎn)品，已能發(fā)揮使用價(jià)值，但使用后卻發(fā)現(xiàn)在使用中會(huì)有這樣的毛病，再發(fā)現(xiàn)在大多數(shù)情況下，大多數(shù)情況下都是在數(shù)小時(shí)到幾十小時(shí)內(nèi)發(fā)生，然后才規(guī)定電子產(chǎn)品的老化和測試，仿照或者等效產(chǎn)品的使用狀態(tài)，這是由產(chǎn)品制造者來完成的。經(jīng)過重新測試，將不合格的產(chǎn)品留在工廠里，沒有問題的產(chǎn)品給用戶，以確保用戶購買的產(chǎn)品是可靠的或幾乎很少問題的。
