軍工產(chǎn)品測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范 這些你都了解嗎?

日期:2021-08-04 14:07:23 瀏覽量:4232 標(biāo)簽: 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

1996年發(fā)布的質(zhì)量管理和質(zhì)量保證國(guó)家軍用系列標(biāo)準(zhǔn)(GJB/Z9001-9004-96),是根據(jù)《軍工產(chǎn)品質(zhì)量管理?xiàng)l例》(簡(jiǎn)稱《條例》)的要求,在相應(yīng)的質(zhì)量管理和質(zhì)量保證國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)(GB/T19001-GB/T19004-1994)的基礎(chǔ)上,增加軍用產(chǎn)品的特殊要求編制的。我國(guó)軍用標(biāo)準(zhǔn)主要分三類:軍用規(guī)范、軍用標(biāo)準(zhǔn)、指導(dǎo)性技術(shù)文件。

產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)包括:高溫、低溫、沖擊、振動(dòng)、浸漬、淋雨、鹽霧、交變濕熱、外殼防水、跌落、搖擺等


號(hào)
產(chǎn)品/產(chǎn)品
類別
項(xiàng)目/參數(shù)
領(lǐng)域
代碼
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)(方法)名稱及編號(hào)
(含年號(hào))
序號(hào)
名稱
1
地面短波通信產(chǎn)品、戰(zhàn)術(shù)超短波跳頻產(chǎn)品、戰(zhàn)術(shù)調(diào)頻產(chǎn)品、跳頻電臺(tái)、船用廣播系統(tǒng)
1
低溫
0431
GJB150.4-1986
軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法  低溫試驗(yàn)
2
高溫
GJB150.3-1986
軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法  高溫試驗(yàn)
3
浸漬
GJB150.14-1986
軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法  浸漬試驗(yàn)
4
沖擊
GJB150.18-1986
軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法  沖擊試驗(yàn)
5
振動(dòng)
GJB150.16-1986
軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法  振動(dòng)試驗(yàn)
6
淋雨
GJB150.8-1986
軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法  淋雨試驗(yàn)
7
濕熱
GJB150.9-1986
軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法  濕熱試驗(yàn)
2
地面短波通信產(chǎn)品、戰(zhàn)術(shù)超短波跳頻產(chǎn)品、戰(zhàn)術(shù)調(diào)頻產(chǎn)品、跳頻電臺(tái)、船用廣播系統(tǒng)
8
鹽霧
0431
GJB150.11-1986
軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法  鹽霧試驗(yàn)
9
溫度
沖擊
GJB150.5-1986
軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法  溫度沖擊試驗(yàn)
3
地面無(wú)線電導(dǎo)航設(shè)備
1
低溫
0431
GB/T 12858-1991
地面無(wú)線電導(dǎo)航設(shè)備環(huán)境要求和試驗(yàn)方法
2
高溫
3
沖擊
4
碰撞
5
振動(dòng)
6
淋雨
7
交變
濕熱
8
鹽霧
4
船用導(dǎo)航設(shè)備
1
低溫
0431
GB 12267-1990
船用導(dǎo)航設(shè)備通用要求和試驗(yàn)方法
2
高溫
3
振動(dòng)
4
濕熱
5
鹽霧
6
噴水
7
浸水
5
船用電子
設(shè)備
1
低溫
0431
GJB 4.3-1983
艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 低溫試驗(yàn)
2
低溫
貯存
GJB 4.4-1983
艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 低溫貯存試驗(yàn)
6
船用電子
設(shè)備
3
高溫
0431
GJB 4.2-1983  艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 高溫試驗(yàn)
4
沖擊
GJB 4.9-1983  艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 沖擊試驗(yàn)
5
顛震
GJB 4.8-1983 艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 顛震試驗(yàn)
6
振動(dòng)
GJB 4.7-1983  艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 振動(dòng)試驗(yàn)
7
外殼
防水
GJB 4.13-1983  艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 外殼防水試驗(yàn)
8
恒定
濕熱
GJB 4.5-1983
艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 恒定濕熱試驗(yàn)
9
交變
濕熱
GJB 4.6-1983
艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 交變濕熱試驗(yàn)
10
鹽霧
GJB 4.11-1983
艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn)
7
移動(dòng)通信調(diào)頻無(wú)線機(jī)
1
低溫
0431
GB/T 15844.2-1995移動(dòng)通信調(diào)頻無(wú)線機(jī)環(huán)境要求和試驗(yàn)方法
2
高溫
3
溫度
沖擊
4
恒定
濕熱
5
沖擊
6
碰撞
7
自由
跌落
8
振動(dòng)
9
鹽霧
10
浸水
11
淋雨
8
電子電工
產(chǎn)品
1
低溫
0431
GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A低溫
2
高溫
GB/T 2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B高溫
3
沖擊
GB/T 2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊
4
碰撞
GB/T 2423.6-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞
5
自由
跌落
GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落
6
振動(dòng)
(正弦)
GB/T 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則:振動(dòng)(正弦)
7
寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)
GB/T 2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fd:寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)——一般要求
8
水試驗(yàn)
GB 2423.38-1990  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)R:水試驗(yàn)方法
9
恒定濕熱
GB/T2423.3-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程    試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法
10
交變濕熱
GB/T 2423.4-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程    試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法
11
傾斜和
搖擺
GB 2423.31-1985  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程傾斜和搖擺試驗(yàn)方法
12
溫度/濕度組合循環(huán)
GB 2423.34-1986  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法
13
鹽霧
GB/T 2423.17-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ka:鹽霧試驗(yàn)方法
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深圳福田海關(guān)查獲大批侵權(quán)電路板,共計(jì)超過(guò)39萬(wàn)個(gè)

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可靠性測(cè)試:常規(guī)的可靠性項(xiàng)目及類型介紹

可靠性試驗(yàn)是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性調(diào)查、分析和評(píng)價(jià)的一種手段。試驗(yàn)結(jié)果為故障分析、研究采取的糾正措施、判斷產(chǎn)品是否達(dá)到指標(biāo)要求提供依據(jù)。根據(jù)可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)所采用的方法和目的,可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)可以分為可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)和可靠性測(cè)定試驗(yàn)。可靠性測(cè)定試驗(yàn)是為測(cè)定可靠性特性或其量值而做的試驗(yàn),通常用來(lái)提供可靠性數(shù)據(jù)。可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)是用來(lái)驗(yàn)證設(shè)備的可靠性特征值是否符合其規(guī)定的可靠性要求的試驗(yàn),一般將可靠性鑒定和驗(yàn)收試驗(yàn)統(tǒng)稱為可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)。

2021-04-26 16:17:00
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產(chǎn)品進(jìn)行可靠性測(cè)試的重要性及目的

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2021-04-26 16:19:00
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匯總:半導(dǎo)體失效分析測(cè)試的詳細(xì)步驟

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2021-04-26 16:29:00
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芯片常用失效分析手段和流程

一般來(lái)說(shuō),集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過(guò)程中失效不可避免,隨著人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來(lái)越重要,通過(guò)芯片失效分析,可以幫助集成電路設(shè)計(jì)人員找到設(shè)計(jì)上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設(shè)計(jì)與操作中的不當(dāng)?shù)葐?wèn)題。芯片失效分析的常用方法不外乎那幾個(gè)流程,最重要的還是要借助于各種先進(jìn)精確的電子儀器。以下內(nèi)容主要從這兩個(gè)方面闡述,希望對(duì)大家有所幫助。

2021-04-26 16:41:00
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值得借鑒!PCB板可靠性測(cè)試方法分享

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2021-04-26 16:47:42
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