電子元器件測(cè)試篩選設(shè)備配置有哪些?
日期:2021-08-02 18:15:08 瀏覽量:2218 標(biāo)簽: 元器件篩選 電子元器件檢測(cè)
電子設(shè)備能否可靠地工作的基礎(chǔ)是電子元器件能否可靠地工作。如果將早期失效的元器件裝上整機(jī)、設(shè)備,就會(huì)使得整機(jī)、設(shè)備的早期失效故障率大幅度增加,其可靠性不能滿(mǎn)足要求,而且還要付出極大的代價(jià)來(lái)維修。因此,應(yīng)該在電子元器件裝上整機(jī)、設(shè)備之前,就要設(shè)法把具有早期失效的元器件盡可能地加以排除,為此就要對(duì)元器件進(jìn)行篩選。
電子元器件測(cè)試篩選一般要求:1.不改變?cè)骷逃锌煽啃?,非破壞性試?yàn);2.對(duì)批次產(chǎn)品進(jìn)行100%篩選;3.剔除早期失效品,提高元器件使用可靠性;4. 篩選等級(jí)由元器件預(yù)期工作條件和使用壽命決定。
電子元器件測(cè)試篩選涉及到大量種類(lèi)的儀器設(shè)備,以下為電子元器件測(cè)試篩選的相關(guān)測(cè)試項(xiàng)目及檢測(cè)儀器設(shè)備清單:
測(cè)試項(xiàng)目 | 檢測(cè)儀器設(shè)備 |
電測(cè)試 | 阻抗分析儀 |
高阻計(jì) | |
耐壓測(cè)試儀 | |
半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng) | |
高精度圖示儀 | |
網(wǎng)絡(luò)分析儀 | |
信號(hào)發(fā)生器 | |
頻譜分析儀 | |
數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng) | |
模擬集成電路測(cè)試系統(tǒng) | |
繼電器測(cè)試系統(tǒng) | |
LCR、電阻計(jì)等 | |
電源模塊測(cè)試系統(tǒng) | |
環(huán)境、應(yīng)力篩選 | 高低溫試驗(yàn)箱:熱循環(huán)試驗(yàn) |
振動(dòng)臺(tái):振動(dòng)試驗(yàn) | |
恒定加速度試驗(yàn)臺(tái):恒定加速度試驗(yàn) | |
可編程電源:電壓、功率老煉試驗(yàn) | |
電子負(fù)載:電流、功率老煉 | |
顆粒碰撞噪聲測(cè)試儀 | |
壽命/老化/老煉試驗(yàn) | 單片集成電路高溫動(dòng)態(tài)老煉系統(tǒng) |
混合集成電路高溫動(dòng)態(tài)老煉系統(tǒng) | |
電源模塊高溫老煉檢測(cè)系統(tǒng) | |
晶體振蕩器高溫老化測(cè)試系統(tǒng) | |
分立器件綜合老煉檢測(cè)系統(tǒng) | |
分立器件間歇壽命試驗(yàn)系統(tǒng) | |
電容器高溫老煉檢測(cè)系統(tǒng) | |
大功率晶體管老煉檢測(cè)系統(tǒng) | |
繼電器低電平壽命篩選系統(tǒng) | |
繼電器中電平壽命篩選系統(tǒng) | |
繼電器高電平壽命篩選系統(tǒng) | |
外觀檢查 | 光學(xué)顯微鏡 |
金相顯微鏡 | |
密封檢測(cè) | 氦質(zhì)譜檢漏儀 |
碳氟化合物粗檢漏儀 | |
X射線(xiàn)照相 | X-RAY透射系統(tǒng) |
掃描聲學(xué)顯微鏡檢查 | 聲掃檢測(cè)設(shè)備 |
超聲掃描顯微鏡 |