電子元器件的常見篩選項目
日期：2024-06-03 14:29:57 瀏覽量：334 標簽: 電子元器件
電子元器件是現(xiàn)代電子產(chǎn)品中不可或缺的組成部分。為了確保電子產(chǎn)品的性能和可靠性，選擇合適的電子元器件至關(guān)重要。本文將介紹電子元器件的篩選原則以及常見的篩選項目。
一、電子元器件的篩選原則
1. 規(guī)格和性能匹配：根據(jù)電子產(chǎn)品的設(shè)計要求，選擇規(guī)格和性能與之匹配的電子元器件。例如，如果需要一個電容器來存儲電荷，就需要選擇容量適當?shù)碾娙萜鳌?/p>
2. 可靠性和壽命：電子產(chǎn)品需要長時間穩(wěn)定運行，因此選擇可靠性高、壽命長的電子元器件非常重要?？煽啃钥梢酝ㄟ^了解供應(yīng)商的聲譽和產(chǎn)品的質(zhì)量認證來評估。
3. 成本效益：在選擇電子元器件時，需要考慮成本效益。高性能的電子元器件通常價格較高，但有時候低成本的元器件也能滿足需求。需要權(quán)衡成本和性能之間的關(guān)系。
4. 供應(yīng)鏈和可獲得性：選擇供應(yīng)鏈穩(wěn)定、可獲得性高的電子元器件。如果某個元器件供應(yīng)鏈不穩(wěn)定，可能會導致生產(chǎn)延誤或停產(chǎn)。
5. 兼容性和接口：在選擇電子元器件時，需要考慮其與其他元器件的兼容性和接口。確保各個元器件之間可以正常通信和協(xié)作。
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二、常見的電子元器件篩選項目
一、振動和沖擊試驗
對產(chǎn)品進行振動和沖擊試驗，這項試驗意在模擬產(chǎn)品在使用的過程中會受到的振動、沖擊環(huán)境，能夠有效的在模擬過程中找到不良偽劣元器件的各種故障問題，發(fā)現(xiàn)元器件的虛焊、漏焊等多種故障，該項試驗對于一些精密電子設(shè)備來說是一項重要的篩選項目。
二、恒溫試驗
電子元器件的失效大多數(shù)的情況是因為其內(nèi)在的或表面的各種物理化學多種情況引發(fā)的，都與溫度有著多多少少的聯(lián)系。元器件在高溫的環(huán)境中，失效的進程一會被加速，對應(yīng)的物理化學反應(yīng)的加速，使得其缺陷的元器件能夠及早的暴露出來，便于剔除。該項篩選常常應(yīng)用在半導體元器件上，通常會持續(xù)在高溫儲存1天到1周之久，能夠有效剔除譬如鍵合不良、氧化層缺陷等各種失效機理的元器件。通過高溫貯存后，還可以使元器件的參數(shù)性能穩(wěn)定下來，減少使用中的參數(shù)漂移。各種元器件的熱應(yīng)力和篩選時間要適當選擇，以免產(chǎn)生新的失效機理。
三、高低溫試驗
電子產(chǎn)品在使用過程中會遇到各種不同的環(huán)境，在不同的環(huán)境條件下，會受到熱的冷的環(huán)境，在熱脹冷縮的作用之下，性能較差的元器件就會出現(xiàn)產(chǎn)生各種失效機理，因此能夠通過該種試驗來讓產(chǎn)品在高低溫環(huán)境下的熱脹冷縮的變化，進行產(chǎn)品的篩選，有效的剔除存在性能缺陷的產(chǎn)品，通常的元器件篩選溫度在-55℃至+125℃的環(huán)境下，循環(huán)試驗5-10次。
四、離心加速度試驗
離心加速度試驗又稱恒定應(yīng)力加速度試驗。這項篩選通常在半導體器件上進行，把高速旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生的離心力作用于器件上，可以剔除鍵合強度過弱、內(nèi)引線匹配不良和裝架不良的器件，通常選用離心加速度20000g而且持續(xù)試驗一分鐘。
五、電性能試驗
各種電子元器件需要在額定功率條件下試驗數(shù)小時至一周時間。各種元器件的電應(yīng)力要適當選擇，可以等于或稍高于額定條件，但不能引入新的失效機理。在熱電應(yīng)力的共同作用下，能很好地暴露元器件體內(nèi)和表面的多種潛在缺陷，它是可靠性篩選的一個重要項目。
本文介紹了電子元器件的篩選原則和常見的篩選項目。通過各項目的篩選也能夠幫助我們辨別產(chǎn)品的優(yōu)劣，防止我們購買到偽劣的元器件，影響到后續(xù)生產(chǎn)品的質(zhì)量。
