HAST高加速壽命測(cè)試的流程步驟

日期:2024-05-08 13:58:35 瀏覽量:458 標(biāo)簽: HAST試驗(yàn)

HAST高加速壽命測(cè)試,是通過(guò)對(duì)樣品施加高溫高濕以及高壓的方式,實(shí)現(xiàn)對(duì)產(chǎn)品加速老化的一種試驗(yàn)方法。廣泛用于PCB、IC半導(dǎo)體、連接器、線(xiàn)路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗(yàn),用于評(píng)估產(chǎn)品密封性、吸濕性及老化性能。

HAST高加速壽命測(cè)試是主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性,是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度,濕度,壓力,的各種條件來(lái)完成,這些條件加速了水分穿透外部保護(hù)性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到材料本體或者產(chǎn)品內(nèi)部。

相對(duì)于傳統(tǒng)的高溫高濕測(cè)試,如85°C/85%RH,HAST增加了容器內(nèi)的壓力,使得可以實(shí)現(xiàn)超過(guò)100℃條件下的溫濕度控制,能夠加速溫濕度的老化效果(如遷移,腐蝕,絕緣劣化,材料老化等),大大縮短可靠性評(píng)估的測(cè)試周期,節(jié)約時(shí)間成本。HAST高加速老化測(cè)試已成為某些行業(yè)的標(biāo)準(zhǔn),特別是在PCB、半導(dǎo)體、太陽(yáng)能、顯示面板等產(chǎn)品中,作為標(biāo)準(zhǔn)高溫高濕測(cè)試(如85C/85%RH-1000小時(shí))的快速有效替代方案。

HAST高加速壽命測(cè)試的流程步驟

HAST高加速壽命測(cè)試的流程一般包括以下步驟:

1.樣品準(zhǔn)備:選擇需要進(jìn)行測(cè)試的樣品,并確保樣品的尺寸、結(jié)構(gòu)、材料等符合測(cè)試要求。

2.試驗(yàn)前準(zhǔn)備:對(duì)試驗(yàn)箱進(jìn)行檢查和維護(hù),確保其正常運(yùn)轉(zhuǎn),并按照標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)置測(cè)試參數(shù),如溫度、濕度、時(shí)間等。

3.樣品安裝:將待測(cè)試的樣品按照要求安裝在試驗(yàn)箱內(nèi),確保樣品的穩(wěn)定性和安全性。

4.開(kāi)始測(cè)試:?jiǎn)?dòng)試驗(yàn)箱,開(kāi)始進(jìn)行高加速壽命測(cè)試。在測(cè)試過(guò)程中,試驗(yàn)箱會(huì)模擬高溫高濕環(huán)境,對(duì)樣品進(jìn)行加速老化。

5.測(cè)試過(guò)程監(jiān)控:在測(cè)試過(guò)程中,需要對(duì)樣品的性能和狀態(tài)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控,記錄測(cè)試數(shù)據(jù)。

6.測(cè)試結(jié)果分析:根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)對(duì)樣品的性能和可靠性進(jìn)行分析和評(píng)估,找出潛在的問(wèn)題和缺陷。

7.后續(xù)處理:根據(jù)測(cè)試結(jié)果對(duì)樣品進(jìn)行相應(yīng)的處理,如修復(fù)、改進(jìn)或報(bào)廢等。

需要注意的是,HAST高加速壽命測(cè)試的具體流程可能因不同的標(biāo)準(zhǔn)和要求而有所不同,因此在具體操作時(shí)需要參考相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范。創(chuàng)芯檢測(cè)始終秉持“專(zhuān)業(yè)、權(quán)威、高效、創(chuàng)新”的宗旨,重金購(gòu)置了國(guó)際先進(jìn)檢測(cè)設(shè)備,檢測(cè)嚴(yán)格遵照國(guó)際檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)及方法,是經(jīng)中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)(CNAS)認(rèn)可和廣東省市場(chǎng)監(jiān)督管理局(CMA)資質(zhì)認(rèn)定的檢測(cè)機(jī)構(gòu),所出具的檢測(cè)報(bào)告具有國(guó)際互認(rèn)效力,可以在世界上58個(gè)國(guó)家的70個(gè)實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可機(jī)構(gòu)得到互認(rèn)。歡迎致電,我們將竭誠(chéng)為您服務(wù)!

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