哪里能做元器件二次篩選？專業(yè)機(jī)構(gòu)解答
日期：2024-04-25 11:36:01 瀏覽量：404 標(biāo)簽: 元器件
哪里能做元器件二次篩選？元器件二次篩選是在元器件裝機(jī)使用前進(jìn)行的合格性檢驗(yàn)，目的是為了剔除早期失效產(chǎn)品，提高產(chǎn)品批次使用可靠性。元器件驗(yàn)收合格后，根據(jù)需要由訂貨單位或使用單位委托元器件檢測(cè)站按有關(guān)規(guī)定進(jìn)行二次篩選，要求能剔除早期失效的元器件。元器件二次篩選是對(duì)一次篩選的補(bǔ)充，應(yīng)在一次篩選的項(xiàng)目和應(yīng)力基礎(chǔ)上，綜合考慮元器件的使用條件和應(yīng)用環(huán)境。
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元器件二次篩選檢測(cè)項(xiàng)目及參考標(biāo)準(zhǔn)
1. 外觀檢查：參考：GB128A-1997 方法 2071、GB548B-2005 方法 2009.1 等；
2. 電測(cè)試：常溫測(cè)試、低溫測(cè)試、高溫測(cè)試，依據(jù)GB、GJB、元器件規(guī)格書(shū)、專業(yè)電測(cè)試設(shè)備，包含電參數(shù)測(cè)試和功能測(cè)試；
3. 環(huán)境應(yīng)力檢測(cè)：掃頻/隨機(jī)振動(dòng)、低溫/高溫存儲(chǔ)、溫度循環(huán)/溫度沖擊、恒定加速度或跌落、粒子碰撞噪聲檢測(cè) (PIND)；
4. 壽命/老化/老練：老煉前/后電測(cè)試，反偏老煉，功率老煉等，專用老煉箱、專用老煉板；
5. 密封：細(xì)檢漏、粗檢漏
6. 掃描聲學(xué)顯微鏡檢查：高可靠性要求
7. X射線照相：參考GJB 360A-1996 方法 209、GJB 128A-1997 方法 2076、GJB 548B-2005方法2012.1等。
元器件二次篩選流程
1. 收樣、標(biāo)識(shí)、入庫(kù)、入系統(tǒng)；
2. 目檢；
3. 電參數(shù)測(cè)試：按照產(chǎn)品規(guī)格書(shū)電性能或電氣性能測(cè)試；
4. 老練篩選：高溫、反偏、功率等；
5. 環(huán)境應(yīng)力測(cè)試：振動(dòng)、沖擊、離心加速度、溫度循環(huán)；
6. 密封性檢查：粗細(xì)檢漏、PIND；
7. 三溫電參數(shù)測(cè)試：按照產(chǎn)品規(guī)格書(shū)電性能或電氣性能測(cè)試
6. 打點(diǎn)、封裝、出庫(kù)。
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