什么是無(wú)損檢測(cè)？無(wú)損檢測(cè)方法適用范圍

日期：2023-03-17 14:40:38 瀏覽量：1394 標(biāo)簽: 無(wú)損檢測(cè)

無(wú)損檢測(cè)是利用光、電、聲、磁等特性，以不破壞被檢測(cè)對(duì)象的完整性和使用性為前提，對(duì)其是否存在缺陷進(jìn)行檢測(cè)，并能準(zhǔn)確給出缺陷的具體位置、大小、數(shù)量和性質(zhì)等信息，是現(xiàn)代工業(yè)發(fā)展不可或缺的技術(shù)手段借助現(xiàn)代化的技術(shù)和設(shè)備器材，對(duì)試件內(nèi)部及表面的結(jié)構(gòu)、性質(zhì)、狀態(tài)及缺陷的類型、性質(zhì)、數(shù)量、形狀、位置、尺寸、分布及其變化進(jìn)行檢查和測(cè)試的方法。

無(wú)損檢測(cè)是工業(yè)發(fā)展必不可少的有效工具，在一定程度上反映了一個(gè)國(guó)家的工業(yè)發(fā)展水平，無(wú)損檢測(cè)的重要性已得到公認(rèn)，主要有射線檢驗(yàn)（RT）、超聲檢測(cè)（UT）、磁粉檢測(cè)（MT）和液體滲透檢測(cè)（PT）四種。其他無(wú)損檢測(cè)方法有渦流檢測(cè)（ECT）、聲發(fā)射檢測(cè)（AE）、熱像/紅外（TIR）、泄漏試驗(yàn)（LT）、交流場(chǎng)測(cè)量技術(shù)（ACFMT）、漏磁檢驗(yàn)（MFL）、遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試檢測(cè)方法（RFT）、超聲波衍射時(shí)差法（TOFD）等。

什么是無(wú)損檢測(cè)？無(wú)損檢測(cè)方法適用范圍

檢測(cè)被檢對(duì)象中是否存在缺陷或不均勻性，給出缺陷大小，位置，性質(zhì)和數(shù)量等信息。與破壞性檢測(cè)相比，無(wú)損檢測(cè)有以下特點(diǎn)。第一是具有非破壞性，因?yàn)樗谧鰴z測(cè)時(shí)不會(huì)損害被檢測(cè)對(duì)象的使用性能；第二具有全面性，由于檢測(cè)是非破壞性，因此必要時(shí)可對(duì)被檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行100%的全面檢測(cè)，這是破壞性檢測(cè)辦不到的；第三具有全程性，破壞性檢測(cè)一般只適用于對(duì)原材料進(jìn)行檢測(cè)，如機(jī)械工程中普遍采用的拉伸、壓縮、彎曲等，破壞性檢驗(yàn)都是針對(duì)制造用原材料進(jìn)行的，對(duì)于產(chǎn)成品和在用品，除非不準(zhǔn)備讓其繼續(xù)服役，否則是不能進(jìn)行破壞性檢測(cè)的，而無(wú)損檢測(cè)因不損壞被檢測(cè)對(duì)象的使用性能。所以，它不僅可對(duì)制造用原材料，各中間工藝環(huán)節(jié)、直至最終產(chǎn)成品進(jìn)行全程檢測(cè)，也可對(duì)服役中的設(shè)備進(jìn)行檢測(cè)。

無(wú)損檢查目視檢測(cè)范圍：

1、焊縫表面缺陷檢查。檢查焊縫表面裂紋、未焊透及焊漏等焊接質(zhì)量。

2、狀態(tài)檢查。檢查表面裂紋、起皮、拉線、劃痕、凹坑、凸起、斑點(diǎn)、腐蝕等缺陷。

3、內(nèi)腔檢查。當(dāng)某些產(chǎn)品(如蝸輪泵、發(fā)動(dòng)機(jī)等)工作后，按技術(shù)要求規(guī)定的項(xiàng)目進(jìn)行內(nèi)窺檢測(cè)。

4、裝配檢查。當(dāng)有要求和需要時(shí)，使用同三維工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡對(duì)裝配質(zhì)量進(jìn)行檢查;裝配或某一工序完成后，檢查各零部組件裝配位置是否符合圖樣或技術(shù)條件的要求;是否存在裝配缺陷。

5、多余物檢查。檢查產(chǎn)品內(nèi)腔殘余內(nèi)屑，外來(lái)物等多余物。

常規(guī)無(wú)損檢測(cè)方法有：

－超聲檢測(cè) Ultrasonic Testing（縮寫 UT）；

－射線檢測(cè) Radiographic Testing（縮寫 RT）；

－磁粉檢測(cè) Magnetic particle Testing（縮寫 MT）；

－滲透檢驗(yàn) Penetrant Testing （縮寫 PT）；

－渦流檢測(cè)Eddy current Testing（縮寫 ET）；

非常規(guī)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)有：

－聲發(fā)射Acoustic Emission(縮寫 AE)；

－泄漏檢測(cè)Leak Testing（縮寫 UT）；

－光全息照相Optical Holography；

－紅外熱成象Infrared Thermography；

－微波檢測(cè) Microwave Testing

以上是創(chuàng)芯檢測(cè)小編整理的無(wú)損檢測(cè)相關(guān)內(nèi)容，希望對(duì)您有所幫助。創(chuàng)芯檢測(cè)是一家電子元器件專業(yè)檢測(cè)機(jī)構(gòu)，目前主要提供電容、電阻、連接器、MCU、CPLD、FPGA、DSP等集成電路檢測(cè)服務(wù)。專精于電子元器件功能檢測(cè)、電子元器件來(lái)料外觀檢測(cè)、電子元器件解剖檢測(cè)、丙酮檢測(cè)、電子元器件X射線掃描檢測(cè)、ROHS成分分析檢測(cè)。歡迎致電，我們將竭誠(chéng)為您服務(wù)！

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