元器件篩選依據(jù) 二次篩選規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)及目的
日期：2022-11-28 15:33:20 瀏覽量：1453 標(biāo)簽: 元器件篩選
元器件應(yīng)按有關(guān)篩選技術(shù)條件進(jìn)行篩選，合格后方能使用。為防止片式元器件篩選后焊端氧化產(chǎn)生虛焊，片式元器件篩選禁止在不具備焊端可焊性處理?xiàng)l件的情況下進(jìn)行。為幫助大家深入了解，本文將對(duì)元器件二次篩選規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)及目的相關(guān)知識(shí)予以匯總。如果您對(duì)本文即將要涉及的內(nèi)容感興趣的話，那就繼續(xù)往下閱讀吧。
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元器件二次篩選程序的制定依據(jù)
原則上應(yīng)根據(jù)元器件現(xiàn)場(chǎng)使用或可靠性試驗(yàn)統(tǒng)計(jì)，對(duì)失效產(chǎn)品進(jìn)行失效分析，搞清各種元器件的失效模式和失效機(jī)理，針對(duì)元器件內(nèi)部存在的缺陷，采取不同的應(yīng)力，使有缺陷的能提前暴露，將其剔除，而對(duì)良品則不受到任何損傷。對(duì)制定的各項(xiàng)篩選應(yīng)力應(yīng)通過(guò)大量的試驗(yàn)驗(yàn)證，并對(duì)失效樣品進(jìn)行失效分析，經(jīng)過(guò)充分論證來(lái)確定。
根據(jù)現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)，比如以GJB584、GJB128、GJB360等標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ)
考慮整機(jī)系統(tǒng)對(duì)元器件的可靠性要求
考慮元器件使用環(huán)境條件、經(jīng)費(fèi)、研制周期
篩選規(guī)定不是永遠(yuǎn)不變的，要根據(jù)元器件制造技術(shù)的提高，試驗(yàn)設(shè)備的發(fā)展，對(duì)元器件可靠性要求的不同進(jìn)行更改。
元器件使用方的篩選要求一般由型號(hào)總體單位確定
元器件二次篩選是對(duì)一次篩選的補(bǔ)充，應(yīng)在一次篩選的項(xiàng)目和應(yīng)力基礎(chǔ)上，綜合考慮元器件的使用條件和應(yīng)用環(huán)境。
特殊性：各單位承擔(dān)任務(wù)不同，對(duì)產(chǎn)品的可靠性要求不同，故沒(méi)有一個(gè)統(tǒng)一的篩選規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)。
元器件二次篩選的目的
1.元器件的篩選試驗(yàn)主要是指剔除早期失效的產(chǎn)品而進(jìn)行的試驗(yàn)。它是一種對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行全數(shù)檢驗(yàn)的非破壞性試驗(yàn)，通過(guò)按照一定的程序施加環(huán)境應(yīng)力，激發(fā)出產(chǎn)品潛在的設(shè)計(jì)和制造缺陷，以便剔除早期失效產(chǎn)品，降低失效率。
2.元器件的篩選一般應(yīng)由元器件生產(chǎn)方按照軍用電子元器件規(guī)范或供需雙方簽定的合同進(jìn)行。一般將元器件生產(chǎn)方進(jìn)行的篩選稱為“一次篩選”，如果當(dāng)“一次篩選”的技術(shù)條件不能完全滿足使用方對(duì)元器件的質(zhì)量要求時(shí)，使用方或其委托單位可以進(jìn)行再篩選以補(bǔ)充生產(chǎn)方篩選的不足。一般將使用方或委托單位進(jìn)行的篩選稱為“二次篩選”或稱“補(bǔ)充篩選”。即二次篩選是指已采購(gòu)的元器件在“一次篩選”試驗(yàn)沒(méi)有滿足使用方規(guī)定的項(xiàng)目要求的技術(shù)條件時(shí)，由使用方進(jìn)行的篩選。元器件的“一次篩選”和“二次篩選”的目的與試驗(yàn)方法基本相同，但應(yīng)強(qiáng)調(diào)“二次篩選”應(yīng)是在“一次篩選”的基礎(chǔ)上剪裁而成的。
3.元器件二次篩選試驗(yàn)一般是對(duì)元器件成品而進(jìn)行的，但也可以在生產(chǎn)過(guò)程中對(duì)元器件的半成品進(jìn)行，例如，質(zhì)量保證等級(jí)較高的半導(dǎo)體器件封帽前的非破壞性鍵合拉力試驗(yàn)、內(nèi)部目檢等篩選都屬于半成品篩選。
以上是創(chuàng)芯檢測(cè)小編整理的元器件二次篩選相關(guān)內(nèi)容，希望對(duì)您有所幫助。我公司擁有專業(yè)工程師及行業(yè)精英團(tuán)隊(duì)，建有標(biāo)準(zhǔn)化實(shí)驗(yàn)室3個(gè)，實(shí)驗(yàn)室面積1800平米以上，可承接電子元器件測(cè)試驗(yàn)證、IC真假鑒別，產(chǎn)品設(shè)計(jì)選料、失效分析，功能檢測(cè)、工廠來(lái)料檢驗(yàn)以及編帶等多種測(cè)試項(xiàng)目。
