電子元器件檢測 各類二極管檢測方法分享

日期:2022-11-15 16:29:32 瀏覽量:1099 標簽: 電子元器件檢測

二極管作為最基礎的晶體管,在電子電路應用中無所不在。不管是電平轉換電路,電源自動切換電路,防反接電路,都有二極管的影子。為幫助大家深入了解,本文將對各類二極管檢測方法相關知識予以匯總。如果您對本文即將要涉及的內容感興趣的話,那就繼續(xù)往下閱讀吧。

普通二極管是由一個PN結構成的半導體器件,具有單向導電特性。通過用萬用表檢測其正、反向電阻值,可以判別出二極管的電極,還可估測出二極管是否損壞。

1.極性的判別將萬用表置于R×100檔或R×1k檔,兩表筆分別接二極管的兩個電極,測出一個結果后,對調兩表筆,再測出一個結果。兩次測量的結果中,有一次測量出的阻值較大(為反向電阻),一次測量出的阻值較?。檎螂娮瑁?。在阻值較小的一次測量中,黑表筆接的是二極管的正極,紅表筆接的是二極管的負極。

2.單負導電性能的檢測及好壞的判斷通常,鍺材料二極管的正向電阻值為1kQ左右,反向電阻值為300左右。硅材料二極管的電阻值為5kN左右,反向電阻值為∞(無窮大)。正向電阻越小越好,反向電阻越大越好。正、反向電阻值相差越懸殊,說明二極管的單向導電特性越好。

若測得二極管的正、反向電阻值均接近0或阻值較小,則說明該二極管內部已擊穿短路或漏電損壞。若測得二極管的正、反向電阻值均為無窮大,則說明該二極管已開路損壞。

3.反向擊穿電壓的檢測二極管反向擊穿電壓(耐壓值)可以用晶體管直流參數(shù)測試表測量。其方法是:測量二極管時,應將測試表的“NPN/PNP”選擇鍵設置為NPN狀態(tài),再將被測二極管的正極接測試表的“C”插孔內,負極插入測試表的“e”插孔,然后按下”V(BR)“鍵,測試表即可指示出二極管的反向擊穿電壓值。也可用兆歐表和萬用表來測量二極管的反向擊穿電壓、測量時被測二_極管的負極與兆歐表的正極相接,將二極管的正極與兆歐表的負極相連,同時用萬用表(置于合適的直流電壓檔)監(jiān)測二極管兩端的電壓。搖動兆歐表手柄(應由慢逐漸加快),待二極管兩端電壓穩(wěn)定而不再上升時,此電壓值即是二極管的反向擊穿電壓。

電子元器件檢測 各類二極管檢測方法分享

穩(wěn)壓二極管的檢測

1.正、負電極的判別從外形上看,金屬封裝穩(wěn)壓二極管管體的正極一端為平面形,負極一端為半圓面形。塑封穩(wěn)壓二極管管體上印有彩色標記的一端為負極,另一端為正極。對標志不清楚的穩(wěn)壓二極管,也可以用萬用表判別其極性,測量的方法與普通二極管相同,即用萬用表R×1k檔,將兩表筆分別接穩(wěn)壓極管的兩個電極,測出一個結果后,再對調兩表筆進行測量。在兩次測量結果中,阻值較小那一次,黑表筆接的是穩(wěn)壓二極管的正極,紅表筆接的是穩(wěn)壓二極管的負極。若測得穩(wěn)壓二極管的正、反向電阻均很小或均為無窮大,則說明該二極管已擊穿或開路損壞。

2.穩(wěn)壓值的測量用0~30V連續(xù)可調直流電源,對于13V以下的穩(wěn)壓二極管,可將穩(wěn)壓電源的輸出電壓調至15V,將電源正極串接1只1.5k限流電阻后與被測穩(wěn)壓二極管的負極相連接,

電源負極與穩(wěn)壓二極管的正極相接,再用萬用表測量穩(wěn)壓二極管兩端的電壓值,所測的讀數(shù)即為穩(wěn)壓二極管的穩(wěn)壓值。若穩(wěn)壓二_極管的穩(wěn)壓值高于15V,則應將穩(wěn)壓電源調至20V以上。也可用低于1000V的兆歐表為穩(wěn)壓二極管提供測試電源。其方法是:將兆歐表正端與穩(wěn)壓二極管的負極相接,兆歐表的負端與穩(wěn)壓二極管的正極相接后,按規(guī)定勻速搖動兆歐表手柄,同時用萬用表監(jiān)測穩(wěn)壓二極管兩端電壓值(萬用表的電壓檔應視穩(wěn)定電壓值的大小而定),待萬用表的指示電壓指示穩(wěn)定時,此電壓值便是穩(wěn)壓二極管的穩(wěn)定電壓值。若測量穩(wěn)壓二極管的穩(wěn)定電壓值忽高忽低,則說明該二極管的性能不穩(wěn)定。

雙向觸發(fā)二極管的檢測

雙向觸發(fā)二極管的檢測

1.正、反向電阻值的測量用萬用表R×1k或R×10k檔,測量雙向觸發(fā)二極管正、反向電阻值。正常時其正、反向電阻值均應為無窮大。若測得正、反向電阻值均很小或為0,則說明該二極管已擊穿損壞。

2.測量轉折電壓測量雙向觸發(fā)二極管的轉折電壓有三種方法。

第一-種方法是:將兆歐表的正極(E)和負極(L)分別接雙向觸發(fā)二極管的兩端,用兆歐表提供擊穿電壓,同時用萬用表的直流電壓檔測量出電壓值,將雙向觸發(fā)二極管的兩極對調后再測量一次。比較一下兩次測量的電壓值的偏差(一般為3~6V)。此偏差值越小,說明此二極管的性能越好。

第二種方法是:先用萬用表測出市電電壓U,然后將被測雙向觸發(fā)二極管串入萬用表的交流電壓測量回路后,接入市電電壓,讀出電壓值U1,再將雙向觸發(fā)二_極管的兩極對調連接后并讀出電壓值U2。

若U1與U2的電壓值相同,但與U的電壓值不同,則說明該雙向觸發(fā)二極管的導通性能對稱性良好。若U1與U2的電壓值相差較大時,則說明該雙向觸發(fā)二極管的導通性不對稱。若U1、U2電壓值均與市電U相同時,則說明該雙向觸發(fā)二極管內部已短路損壞。若U1、U2的電壓值均為0V,則說明該雙向觸發(fā)--極管內部已開路損壞。

第三種方法是:用0~50V連續(xù)可調直流電源,將電源的正極串接1只20kQ電阻器后與雙向觸發(fā)二極管的一端相接,將電源的負極串接萬用表電流檔(將其置于1mA檔)后與雙向觸發(fā)二極管的另一端相接。逐漸增加電源電壓,當電流表指針有較明顯擺動時(幾十微安以上),則說明此雙向觸發(fā)二極管已導通,此時電源的電壓值即是雙向觸發(fā)二極管的轉折電壓。

以上便是此次創(chuàng)芯檢測帶來的“各類二極管檢測方法”相關內容,希望能對大家有所幫助,我們將于后期帶來更多精彩內容。公司檢測服務范圍涵蓋:電子元器件測試驗證、IC真假鑒別,產(chǎn)品設計選料、失效分析,功能檢測、工廠來料檢驗以及編帶等多種測試項目。歡迎致電創(chuàng)芯檢測,我們將竭誠為您服務。

微信掃碼關注 CXOlab創(chuàng)芯在線檢測實驗室
相關閱讀
五月芯資訊回顧:原廠漲價函不斷,疫情影響供應鏈

剛剛過去的五月,全球多地疫情反彈,大宗商品漲價延續(xù),IC產(chǎn)業(yè)鏈毫無意外,缺貨漲價仍是主旋律。下面就來梳理一下過去的一個月,業(yè)內都有哪些值得關注的熱點。

2021-06-04 11:16:00
查看詳情
馬來西亞管控延長,被動元件又懸了?

自五月以來,馬來西亞疫情不斷升溫,每日新增確診高峰曾突破9000例。嚴峻形勢之下,馬來西亞政府于6月1日開始執(zhí)行為期半個月的全面行動管制。在這之后,每日新增病例呈現(xiàn)下降趨勢。

2021-06-18 15:41:07
查看詳情
內存市場翻轉,漲價來襲!

據(jù)媒體近日報道,內存正在重回漲價模式,從去年12月到今年1月,漲幅最多的品種已達30%。據(jù)行情網(wǎng)站數(shù)據(jù),各類內存條、內存顆粒在12月上旬起開始漲價,至今仍沒有停止的意思。

2021-03-05 10:53:00
查看詳情
被動元件漲價啟動,MLCC和芯片打頭陣

據(jù)臺媒近日報道,MLCC兩大原廠三星電機和TDK近期對一線組裝廠客戶發(fā)出通知,強調高容MLCC供貨緊張,即將對其調漲報價。在芯片電阻市場,臺廠國巨正式宣布從三月起漲價15-25%。緊接著,華新科也對代理商發(fā)出漲價通知,新訂單將調漲10-15%。

2021-03-05 10:52:00
查看詳情
深圳福田海關查獲大批侵權電路板,共計超過39萬個

據(jù)海關總署微信平臺“海關發(fā)布”10日發(fā)布的消息,經(jīng)品牌權利人確認,深圳海關所屬福田海關此前在貨運出口渠道查獲的一批共計391500個印刷電路板,侵犯了UL公司的“RU”商標專用權。

2021-03-05 11:12:00
查看詳情
可靠性測試:常規(guī)的可靠性項目及類型介紹

可靠性試驗是對產(chǎn)品進行可靠性調查、分析和評價的一種手段。試驗結果為故障分析、研究采取的糾正措施、判斷產(chǎn)品是否達到指標要求提供依據(jù)。根據(jù)可靠性統(tǒng)計試驗所采用的方法和目的,可靠性統(tǒng)計試驗可以分為可靠性驗證試驗和可靠性測定試驗??煽啃詼y定試驗是為測定可靠性特性或其量值而做的試驗,通常用來提供可靠性數(shù)據(jù)??煽啃则炞C試驗是用來驗證設備的可靠性特征值是否符合其規(guī)定的可靠性要求的試驗,一般將可靠性鑒定和驗收試驗統(tǒng)稱為可靠性驗證試驗。

2021-04-26 16:17:00
查看詳情
產(chǎn)品進行可靠性測試的重要性及目的

產(chǎn)品在一定時間或條件下無故障地執(zhí)行指定功能的能力或可能性??赏ㄟ^可靠度、失效率還有平均無故障間隔等來評價產(chǎn)品的可靠性。而且這是一項重要的質量指標,只是定性描述就顯得不夠,必須使之數(shù)量化,這樣才能進行精確的描述和比較。

2021-04-26 16:19:00
查看詳情
匯總:半導體失效分析測試的詳細步驟

失效分析是芯片測試重要環(huán)節(jié),無論對于量產(chǎn)樣品還是設計環(huán)節(jié)亦或是客退品,失效分析可以幫助降低成本,縮短周期。 常見的失效分析方法有Decap,X-RAY,IV,EMMI,F(xiàn)IB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,因為失效分析設備昂貴,大部分需求單位配不了或配不齊需要的設備,因此借用外力,使用對外開放的資源,來完成自己的分析也是一種很好的選擇。我們選擇去外面測試時需要準備的信息有哪些呢?下面為大家整理一下:

2021-04-26 16:29:00
查看詳情
芯片常用失效分析手段和流程

一般來說,集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過程中失效不可避免,隨著人們對產(chǎn)品質量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,通過芯片失效分析,可以幫助集成電路設計人員找到設計上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設計與操作中的不當?shù)葐栴}。芯片失效分析的常用方法不外乎那幾個流程,最重要的還是要借助于各種先進精確的電子儀器。以下內容主要從這兩個方面闡述,希望對大家有所幫助。

2021-04-26 16:41:00
查看詳情
值得借鑒!PCB板可靠性測試方法分享

PCB電路板是電子元件的基礎和高速公路,又稱印刷電路板,是電子元器件電氣連接的提供者。它的發(fā)展已有100多年的歷史了;它的設計主要是版圖設計;采用電路板的主要優(yōu)點是大大減少布線和裝配的差錯,提高了自動化水平和生產(chǎn)勞動率。PCB的質量非常關鍵,要檢查PCB的質量,必須進行多項可靠性測試。這篇文章就是對測試的介紹,一起來看看吧。

2021-04-26 16:47:42
查看詳情