自動光學(xué)檢查（Automated Optical Inspection，簡稱AOI），為高速高精度光學(xué)影像檢測系統(tǒng)，運用機器視覺做為檢測標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)，可以改良傳統(tǒng)上以人力使用光學(xué)儀器進(jìn)行檢測的缺點，應(yīng)用層面包括從高科技產(chǎn)業(yè)之研發(fā)、制造品管，以至國防、民生、醫(yī)療、環(huán)保、電力等領(lǐng)域。
以SMT檢測為例，當(dāng)自動檢測時，機器通過攝像頭自動掃描PCB，采集圖像，測試的焊點與數(shù)據(jù)庫中的合格的參數(shù)進(jìn)行比較，經(jīng)過圖像處理，檢查出PCB上缺陷，并通過顯示器或自動標(biāo)志把缺陷顯示/標(biāo)示出來，供維修人員修整。
_20221017170803_274.png "什么是AOI檢測?產(chǎn)品外觀自動檢測設(shè)備功能")
AOI視覺檢測設(shè)備功能：
(1) AOI的光源由紅、綠、藍(lán)三種LED燈組成，利用色彩的三基色原理來組合成不同的色彩，結(jié)合光學(xué)原理中的鏡面反射、漫反射、斜面反射，將PCB上貼片元件及焊接狀況以圖像的方式顯示出來。
(2)權(quán)值成像數(shù)據(jù)差異分析系統(tǒng)是通過對一幅圖像柵格化，分析各個像素顏色分布的位置坐標(biāo)、成像柵格之間（色彩）過度關(guān)系等成像細(xì)節(jié)，列出若干個函數(shù)式，再通過對相同面積大小的若干幅相似圖片進(jìn)行數(shù)據(jù)提取，并分析計算，將計算結(jié)果按軟件設(shè)定的權(quán)值關(guān)系及最初圖像像素色彩、坐標(biāo)進(jìn)行還原，形成一個虛擬的、權(quán)值的數(shù)字圖像，這個圖像稱為“權(quán)值圖像”，其主要數(shù)字信息包含了圖像的圖形輪廓、色彩的分布、允許變化的權(quán)值關(guān)系等，以便后面進(jìn)行分析和處理。
(3)相似性原理。利用圖像的明暗關(guān)系形成目標(biāo)物的外形輪廓，比較該外形輪廓與標(biāo)準(zhǔn)輪廓的相像程度。該方法財檢測元件的缺失、漏貼等比較有效。
(4)顏色提取。任何顏色均可用紅、綠、藍(lán)三基色按照一定的比例混合而成。紅、綠、藍(lán)形成一個三維顏色立方體。顏色提取就是在這個顏色立方體中裁取一個需要的小顏色方體，即對應(yīng)我們需要選取顏色的范圍，然后計算所檢測的圖像中滿足該顏色方體占整個圖像顏色數(shù)的比例，檢查是否滿足需要的設(shè)定范圍。在以紅、綠、藍(lán)三色光照的情況下，該方法最適合對電阻、電容等焊錫進(jìn)行檢測。
(5)圖像比對。在測試過程中，設(shè)備通過CCD攝像系統(tǒng)采集所測試電路板上的圖像，經(jīng)過圖像數(shù)字化處理后輸入計算機內(nèi)部，與標(biāo)準(zhǔn)圖像進(jìn)行運算比對（比對項目包括元件的尺寸、角度、偏移量、亮度、顏色及位置等），并將比對結(jié)果超過額定誤差閾值的圖像通過顯示器輸出，并顯示其在PCB上的具體位置。
(6)二值化原理。將目標(biāo)圖像按一定方式轉(zhuǎn)換為灰度圖像，然后選取一定的亮度閾值進(jìn)行圖像處理，低于閾值的直接轉(zhuǎn)換成黑色，高于閾值的直接轉(zhuǎn)換成白色。使字符、IC短路等直接從原圖像中分離出來。
AOI 四個檢測位置：
（1）錫膏印刷之后，主要檢查焊膏印刷的情況；
（2）片式元件貼放之后，以檢查貼片的正確與否，可以較早地發(fā)現(xiàn)錯誤，減少成本；
（3）芯片貼放之后，檢測系統(tǒng)能夠檢查PCB上缺失、偏移、歪斜的芯片及芯片極性的錯誤；
（4）回流焊接之后，在生產(chǎn)線的末端?？梢詸z測系統(tǒng)可以檢查出元件的缺失, 偏移和歪斜及元件極性缺陷。
AOI 四個檢測位置中，錫膏印刷之后、（片式）器件貼放之后和元件貼放之后的檢測目的在于預(yù)防問題，在這幾個位置檢測，能夠阻止缺陷的產(chǎn)生；在回流焊接之后的檢測，則目的在于發(fā)現(xiàn)問題。預(yù)防問題 AOI放置在爐前，發(fā)現(xiàn)問題 AOI 放置在爐后。
隨著PCB日趨超薄型、高密度、細(xì)間距，PCB線路板上元器件上的線寬、間距等已經(jīng)達(dá)到微米級，人工檢測已經(jīng)遠(yuǎn)不能滿足如此高精密度的檢測需求。AOI檢測技術(shù)更具高穩(wěn)定性、精確度、可重復(fù)性，使PCB任何工藝缺陷漏檢率、錯檢率趨向于零。我公司擁有專業(yè)工程師及行業(yè)精英團(tuán)隊，建有標(biāo)準(zhǔn)化實驗室3個，實驗室面積1800平米以上，可承接電子元器件測試驗證、IC真假鑒別，產(chǎn)品設(shè)計選料、失效分析，功能檢測、工廠來料檢驗以及編帶等多種測試項目。
