產(chǎn)品可靠性測(cè)試 PCB制造常用的測(cè)試方法

PCB已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的最為重要而關(guān)鍵的部分，其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定了整機(jī)設(shè)備的質(zhì)量與可靠性。如果PCB存在缺陷或制造問(wèn)題，則可能導(dǎo)致最終產(chǎn)品出現(xiàn)故障并造成不便。在這些情況下，制造商將不得不召回這些設(shè)備，并花費(fèi)更多的時(shí)間和資源來(lái)修復(fù)故障。PCB測(cè)試成為電路板制造過(guò)程中不可或缺的一部分，它及時(shí)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，協(xié)助工作人員快速處理，保證PCB的高品質(zhì)。

PCBA測(cè)試是一項(xiàng)必要的工序，如果正確完成，可以防止產(chǎn)品上市時(shí)避免出現(xiàn)品質(zhì)問(wèn)題損害品牌名譽(yù)。下面我們一起來(lái)了解PCB常用的幾種測(cè)試方法。

1.在線測(cè)試(ICT)

ICT，即自動(dòng)在線測(cè)試，是現(xiàn)代PCB制造廠商必備測(cè)試設(shè)備，非常強(qiáng)大。它主要是通過(guò)測(cè)試探針接觸PCB layout出來(lái)的測(cè)試點(diǎn)來(lái)檢測(cè)PCBA的線路開路、短路、所有零件的故障情況，并明確告知工作人員。

ICT使用范圍廣，測(cè)量準(zhǔn)確性高，對(duì)檢測(cè)出的問(wèn)題指示明確，即使電子技術(shù)水準(zhǔn)一般的工人處理有問(wèn)題的PCBA也非常容易。使用ICT能極大地提高生產(chǎn)效率，降低生產(chǎn)成本。

2.飛針測(cè)試

飛針測(cè)試與在線測(cè)試(ICT)都是備受認(rèn)可的有效測(cè)試形式，兩者都可以有效地發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)質(zhì)量問(wèn)題，但飛針測(cè)試被證明是提高電路板標(biāo)準(zhǔn)的一種特別具有成本效益的方法。

與將測(cè)試探針固定位置的傳統(tǒng)測(cè)試方法相反，飛針測(cè)試使用兩個(gè)或多個(gè)獨(dú)立的探針，在沒(méi)有固定測(cè)試點(diǎn)的情況下運(yùn)行。這些探頭是機(jī)電控制的，并根據(jù)特定的軟件指令移動(dòng)。因此，飛針測(cè)試的初始成本較低，它可以通過(guò)修改軟件來(lái)完成，無(wú)須更改固定結(jié)構(gòu)。相比之下，ICT初始的夾具成本就較高，因此對(duì)于小批量訂單來(lái)說(shuō)，飛針測(cè)試更便宜，但I(xiàn)CT比飛針測(cè)試速度更快且更不容易出錯(cuò)，所以對(duì)于大批量訂單來(lái)說(shuō)，還是ICT更劃算。

3.功能測(cè)試

功能系統(tǒng)測(cè)試使用生產(chǎn)線中部和末端的專用測(cè)試設(shè)備對(duì)電路板的功能模塊進(jìn)行全面的測(cè)試，以確認(rèn)電路板的質(zhì)量。功能測(cè)試主要有最終產(chǎn)品測(cè)試(Final Product Test)和最新實(shí)體模型(Hot Mock-up)兩種。

功能測(cè)試通常不提供深入的數(shù)據(jù)(例如，引腳位置和組件級(jí)診斷)來(lái)改善過(guò)程，而是需要專門的設(shè)備和經(jīng)過(guò)特殊設(shè)計(jì)的測(cè)試程序。編寫功能測(cè)試程序非常復(fù)雜，因此不適用于大多數(shù)電路板生產(chǎn)線。

4.自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)(AOI)

AOI使用單個(gè)2D相機(jī)或兩個(gè)3D相機(jī)拍攝PCB的照片，然后把電路板照片與詳細(xì)的原理圖進(jìn)行比較。如果電路板在一定程度上與原理圖不匹配，則會(huì)將該電路板不匹配的地方標(biāo)記為由技術(shù)人員檢查，AOI能及時(shí)檢測(cè)故障問(wèn)題。

但是，AOI檢測(cè)不會(huì)為電路板供電，無(wú)法100%檢測(cè)所有元器件的問(wèn)題，因此AOI一般會(huì)與其他測(cè)試方法結(jié)合使用，常用的測(cè)試組合是：

AOI和飛針

AOI和在線測(cè)試(ICT)

AOI和功能測(cè)試

5.X-ray測(cè)試

X-ray測(cè)試，即X射線檢測(cè)，它使用低能量X光，快速檢測(cè)出電路板開路、短路、空焊、漏焊等問(wèn)題。

X-ray主要用于檢測(cè)超細(xì)間距和超高密度的缺陷電路板，以及裝配過(guò)程中產(chǎn)生的橋接、芯片缺失、錯(cuò)位等缺陷。它還可以使用斷層掃描來(lái)檢測(cè)IC芯片中的內(nèi)部缺陷。這是測(cè)試球柵陣列和焊球鍵合質(zhì)量的唯一方法。主要優(yōu)點(diǎn)是無(wú)需花費(fèi)固定裝置即可檢查BGA焊料質(zhì)量和嵌入式組件。

6.激光檢測(cè)

這是pcb測(cè)試技術(shù)的最新發(fā)展。它用激光束掃描印制板，收集所有測(cè)量數(shù)據(jù)，并將實(shí)際測(cè)量值與預(yù)設(shè)的接受限值進(jìn)行比較。該技術(shù)已在裸板上得到驗(yàn)證，并正在考慮用于組裝板測(cè)試。這個(gè)速度對(duì)于量產(chǎn)線來(lái)說(shuō)已經(jīng)足夠了。輸出快、無(wú)夾具、視覺(jué)通暢是其主要優(yōu)勢(shì);初始成本高、維護(hù)和使用問(wèn)題是其主要缺點(diǎn)。

7.老化測(cè)試

老化測(cè)試是，指模擬產(chǎn)品在現(xiàn)實(shí)使用條件中涉及到的各種因素對(duì)產(chǎn)品產(chǎn)生老化的情況進(jìn)行相應(yīng)條件加強(qiáng)實(shí)驗(yàn)的過(guò)程。目的是檢測(cè)產(chǎn)品在特定環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性。

根據(jù)設(shè)計(jì)要求，將產(chǎn)品放置特定溫度、濕度條件下，持續(xù)模擬工作72小時(shí)~7天，記錄表現(xiàn)數(shù)據(jù)，反推生產(chǎn)過(guò)程進(jìn)行改善，以確保其性能滿足市場(chǎng)需求。老化測(cè)試通常指電氣性能測(cè)試，類似的測(cè)試還有跌落測(cè)試、振動(dòng)測(cè)試、鹽霧測(cè)試等。

除了以上7種測(cè)試，基于產(chǎn)品需求，還會(huì)使用其他測(cè)試方法以進(jìn)一步確保PCB質(zhì)量。比如：

可焊性測(cè)試：確保表面堅(jiān)固并增加形成可靠焊點(diǎn)的機(jī)會(huì)

PCB污染測(cè)試：檢測(cè)可能污染電路板、導(dǎo)致腐蝕和其他問(wèn)題的大量離子

顯微切片分析：調(diào)查缺陷、開路、短路和其他故障

時(shí)域反射儀(TDR)：發(fā)現(xiàn)高頻板的故障

剝離測(cè)試：找出將層壓板從板上剝離所需的強(qiáng)度測(cè)量值

浮焊測(cè)試：確定PCB孔可以抵抗的熱應(yīng)力水平

以上是創(chuàng)芯檢測(cè)小編整理的PCB常見失效問(wèn)題處理分析相關(guān)內(nèi)容，希望對(duì)您有所幫助。創(chuàng)芯檢測(cè)是一家電子元器件專業(yè)檢測(cè)機(jī)構(gòu)，目前主要提供電容、電阻、連接器、MCU、CPLD、FPGA、DSP等集成電路檢測(cè)服務(wù)。專精于電子元器件功能檢測(cè)、電子元器件來(lái)料外觀檢測(cè)、電子元器件解剖檢測(cè)、丙酮檢測(cè) 、電子元器件X射線掃描檢測(cè)、ROHS成分分析檢測(cè) 。歡迎致電，我們將竭誠(chéng)為您服務(wù)！