如何對基本電子元器件進行二次篩選？可靠性篩選試驗方法

可靠性又分為固有可靠性和使用可靠性。電子元器件的固有可靠性是指元器件本身具有的可靠性，取決于產(chǎn)品的可靠性設計。由于工作條件、環(huán)境條件和人為因素等引發(fā)的可靠性問題，通過元器件二次篩選可以有效剔除缺陷元件，避免缺陷元件的使用，有效提高產(chǎn)品的使用可靠性。本文收集整理了一些資料，期望能對各位讀者有比較大的參閱價值。

電子元器件的可靠性

元器件存在缺陷是難以避免的，應通過一系列的對產(chǎn)品的非破壞性的篩選試驗，施加合理應力，剔除具有潛在缺陷的早期失效產(chǎn)品，使其度過浴盆曲線的早期失效階段。因此必須在產(chǎn)品的整個壽命周期內(nèi)，采取積極主動的工藝手段，對產(chǎn)品施加適當應力，使其潛在的缺陷激發(fā)，隱患提前暴露，從而提高產(chǎn)品質(zhì)量。可靠性篩選不能提高產(chǎn)品的固有可靠性，但是有效的篩選通過發(fā)現(xiàn)設計和制造方面所引起的缺陷，反饋到設計、生產(chǎn)的質(zhì)量控制中去，以便采取糾正措施，真正提高產(chǎn)品的可靠性。

電子元器件的二次篩選

二次篩選的質(zhì)量直接影響著型號產(chǎn)品的質(zhì)量，現(xiàn)在因為同一種器件在不同型號的產(chǎn)品中有不同的篩選要求，而且送篩器件批次多、數(shù)量大，往往在時間進度方面不能滿足產(chǎn)品要求，并且由于篩選技術(shù)的局限性，還不能達到將早期失效的元器件全部剔除掉的理想目標，因此提高元器件篩選質(zhì)量和效率是元器件篩選工作上的主要目標。

二次篩選就是針對不同的失效模式進行一些試驗以剔除不合格的、或由于某種缺陷會引起早期失效的元器件。通過二次篩選是不能提高元器件個體的固有可靠性水平的，但可以通過剔除不合格品，從生產(chǎn)批次的角度上講，改善批次的固有可靠性水平。從環(huán)境類別角度上講，相同環(huán)境下同一類器件的環(huán)境系數(shù)相同，因此相同環(huán)境下的產(chǎn)品的元器件篩選要求可以統(tǒng)一。

例如半導體器件的二次篩選項目通常是外觀檢查、常溫初測、溫度循環(huán)、恒定加速度、顆粒碰撞噪聲檢測、常溫中測、高溫老煉、常溫終測、低溫測試、高溫測試、密封檢查等。而各項目的試驗方法和試驗條件等都是按相關(guān)國軍標選取的，加載應力是按標準或元器件規(guī)范選取的。因此相同器件在相同環(huán)境類別下可以制定相同的篩選要求，以提高元器件篩選質(zhì)量和效率。

電子元器件二次篩選的要求

二次篩選工作的各項試驗以及其應力的選擇是針對產(chǎn)品的使用要求而制定的，其篩選要求不能過嚴也不能過松。過于嚴格的篩選要求，會將原本滿足產(chǎn)品使用要求的元器件淘汰掉，進而增加了篩選的成本及元器件的使用成本，在某種情況下，可能對元器件造成損壞，反而造成了更多的質(zhì)量隱患；若過于寬松的篩選條件，則會造成本不滿足產(chǎn)品要求的元器件順利過關(guān)，對產(chǎn)品的可靠性有所影響。因此，必須制定出適合篩選應力條件的要求，它將對產(chǎn)品質(zhì)量的可靠性有直接影響。

電子元器件二次篩選的作用

二次篩選的作用只能改善元器件的批質(zhì)量。因此，已經(jīng)確定滿足整機要求的元器件應盡量不做電應力、機械應力和熱應力的篩選項目，只做一些必要的檢查性和測試性的篩選項目。例如列入我國軍用電子元器件合格產(chǎn)品目錄和合格制造商目錄中的電子元器件，其篩選項目和應力條件滿足產(chǎn)品的要求，可不作二次篩選；表貼元器件的封裝形式一般是盤封，主要用于表面貼裝生產(chǎn)線，篩選后將會影響焊接質(zhì)量與可靠性，故不宜進行二次篩選。另一類是針對產(chǎn)品的用途進行有選擇性的篩選。例如：抗幅照能力的考核就是一個特例。對宇航電子設備是必須考慮的，對地面電子設備則基本上可以不考慮。

電子元器件二次篩選注意事項

二次篩選的不當操作和防護也能給電子元器件的運用留下隱患或直接造成失效。所以，在二次篩選檢測試驗中，環(huán)境保護、操作、靜電防護等方面應做好電子元器件的可靠性保障工作。二次篩選選取的應力應保證對正常器件不造成損壞、損傷及明顯縮短其使用壽命，二次篩選試驗的溫度不得超過被試元器件詳細規(guī)范中規(guī)定的極限溫度（含正極限溫度和負極限溫度），防止可能因元器件的封裝材料、結(jié)構(gòu)等原因，其極限溫度達不到試驗項目中規(guī)定的溫度要求而損傷元器件。過應力條件篩選的元器件原則上不可裝機。

測試順序的安排是后面的參數(shù)能夠檢查元器件經(jīng)前面參數(shù)測試后可能產(chǎn)生的變化。對有耐電壓、絕緣電阻測試要求的元器件，耐壓在前、絕緣在后，功能參數(shù)最后測試；對有擊穿電壓和漏電流測試要求的元器件，擊穿電壓在前，漏電流在后，功能參數(shù)最后測試。具有遞減失效率函數(shù)的元器件一定是適合篩選的，但并非所有適合篩選的元器件都一定滿足此條件。隨著電子元器件小型化的發(fā)展，我們也應該不斷擴展和研究新的控制元器件的質(zhì)量的篩選方法，繼續(xù)為整機產(chǎn)品使用的電子元器件的使用可靠性提供可靠的保障。