ic芯片相關(guān)資訊
ic芯片各引腳檢測(cè):識(shí)別、氧化及功能介紹

IC芯片引腳是否合格，是成型分離制程檢測(cè)的關(guān)鍵。針對(duì)這一問題，應(yīng)用機(jī)器視覺和機(jī)器自動(dòng)化技術(shù)，研制出實(shí)現(xiàn)成型分離制程芯片檢測(cè)自動(dòng)化的檢測(cè)系統(tǒng)。實(shí)驗(yàn)測(cè)試表明，該設(shè)備具有較高的檢測(cè)精度和檢測(cè)速度，能夠滿足生產(chǎn)需要。下面主要介紹ic芯片引腳判斷順序、氧化及各功能介紹及檢測(cè)。

2021-10-20 13:30:00
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