ESD失效相關(guān)資訊
ESD失效的形式 對電子元器件的破壞有哪些?
靜電和靜電放電(ESD)在我們的日常生活中無處不在,尤其是當(dāng)手持電子設(shè)備向輕薄小巧方向發(fā)展而且產(chǎn)品功能不斷增加時,它們的輸入/輸出端口也隨之增多,導(dǎo)致靜電放電進(jìn)入系統(tǒng)并干擾或損壞集成電路。半導(dǎo)體材料器件對于生產(chǎn)、組裝和維修等過程環(huán)境的靜電控制要求越來越高。而靜電放電對器件可靠性的危害變得越來越顯著。為幫助大家深入了解,以下內(nèi)容由創(chuàng)芯檢測網(wǎng)整理,提供給您參考。
2022-07-20 14:57:51
查看詳情
熱門文章
什么是電氣性能?電氣性能測試包括什么?
UV測試是什么?UV測試通用檢測標(biāo)準(zhǔn)及流程
焊縫檢測探傷一級二級三級標(biāo)準(zhǔn)是多少?
芯片開蓋(Decap)檢測的有效方法及全過程細(xì)節(jié)
芯片切片分析是什么?如何進(jìn)行切片分析試驗(yàn)?
溫升測試(Temperature rise test)-電性能測試
CNAS認(rèn)證是什么?實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行CNAS認(rèn)可的目的及意義
什么是IC測試?實(shí)現(xiàn)芯片測試的解決方法介紹
芯片發(fā)熱是不是芯片壞了?在多少溫度下會損壞
熱門標(biāo)簽