為了使更多客戶了解異常物料信息，創(chuàng)芯檢測(cè)對(duì)外發(fā)布元器件異常品質(zhì)分析報(bào)告，希望能幫助您預(yù)警風(fēng)險(xiǎn)，確保安心購(gòu)物，避免購(gòu)買不合格器件。 本次對(duì)外公布為2024年6月實(shí)驗(yàn)室所攔截的高風(fēng)險(xiǎn)及高危物料。

2024-07-26 10:13:00

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隨著科技的進(jìn)步和應(yīng)用范圍的不斷擴(kuò)大，人們對(duì)于電子元器件的質(zhì)量和可靠性要求也越來(lái)越高，因?yàn)殡娮釉骷牡蜏厥?huì)嚴(yán)重影響產(chǎn)品的穩(wěn)定性和壽命。今天我們就來(lái)詳細(xì)了解一下低溫對(duì)電子元器件的影響及其失效原因。

2024-07-11 15:00:00

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芯片測(cè)試是在集成電路（芯片）制造過(guò)程中非常關(guān)鍵的一步，旨在確保芯片符合設(shè)計(jì)規(guī)格并且能夠正常工作。以下是一些常見(jiàn)的芯片測(cè)試方法和流程

2024-07-08 16:00:00

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為了使更多客戶了解異常物料信息，創(chuàng)芯檢測(cè)對(duì)外發(fā)布元器件異常品質(zhì)分析報(bào)告，希望能幫助您預(yù)警風(fēng)險(xiǎn)，確保安心購(gòu)物，避免購(gòu)買不合格器件。 本次對(duì)外公布為2024年5月實(shí)驗(yàn)室所攔截的高風(fēng)險(xiǎn)及高危物料。

2024-07-02 10:34:00

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為了使更多客戶了解異常物料信息，創(chuàng)芯檢測(cè)對(duì)外發(fā)布元器件異常品質(zhì)分析報(bào)告，希望能幫助您預(yù)警風(fēng)險(xiǎn)，確保安心購(gòu)物，避免購(gòu)買不合格器件。 本次對(duì)外公布為2024年4月實(shí)驗(yàn)室所攔截的高風(fēng)險(xiǎn)及高危物料。

2024-05-20 17:48:13

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為了使更多客戶了解異常物料信息，創(chuàng)芯檢測(cè)定期對(duì)外發(fā)布元器件品質(zhì)異常分析檢測(cè)報(bào)告，希望能夠幫助您預(yù)警風(fēng)險(xiǎn)，安心購(gòu)物，避免購(gòu)買到不合格器件。本次對(duì)外公布數(shù)據(jù)為2024年3月創(chuàng)芯檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室攔截高風(fēng)險(xiǎn)及高危物料。

2024-04-15 11:44:00

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