怎樣檢測(cè)霍爾傳感器好壞?霍爾傳感器失效原因

霍爾傳感器是根據(jù)霍爾效應(yīng)制作的一種傳感器，使用價(jià)值非常高，可以實(shí)現(xiàn)導(dǎo)電，磁感應(yīng)，檢測(cè)等作用。作為一個(gè)高精密度的小器件，為工業(yè)自動(dòng)化技術(shù)等領(lǐng)域作出了很大的貢獻(xiàn)。任何一個(gè)電子元器件都會(huì)有故障問(wèn)題，霍爾傳感器也不例外。那么怎樣檢測(cè)霍爾傳感器好壞?一起來(lái)看看吧!

首先來(lái)看看霍爾傳感器的分類(lèi)，霍爾傳感器分為線(xiàn)性型霍爾傳感器和開(kāi)關(guān)型霍爾傳感器兩種。

（一）線(xiàn)性型霍爾傳感器由霍爾元件、線(xiàn)性放大器和射極跟隨器組成，它輸出模擬量。

（二）開(kāi)關(guān)型霍爾傳感器由穩(wěn)壓器、霍爾元件、差分放大器，斯密特觸發(fā)器和輸出級(jí)組成，它輸出數(shù)字量。

霍爾傳感器又稱(chēng)位置傳感器，一般出故障后主要表現(xiàn)在傳感器脫落、霍爾集成電路失效和引線(xiàn)斷開(kāi)等。霍爾傳感器故障檢測(cè)方法如下：

一、線(xiàn)性霍爾元件的好壞判斷

1、改變磁場(chǎng)的大小線(xiàn)性霍爾元件的好壞

將線(xiàn)性霍爾元件通電，輸出端接上電壓表，磁鐵從遠(yuǎn)到近逐漸靠近線(xiàn)性霍爾元件時(shí)，該線(xiàn)性霍爾元件的輸出電壓逐漸從小到大變化，這說(shuō)明該線(xiàn)性霍爾元件是好的，如果磁鐵從遠(yuǎn)到近逐漸地靠近線(xiàn)性霍爾元件，該線(xiàn)性霍爾元件的輸出電壓保持不變，這說(shuō)明該線(xiàn)性霍爾元件已被損壞。

2、改變線(xiàn)性霍爾元件恒流源的電流大小判斷線(xiàn)性霍爾元件的好壞

磁鐵保持不動(dòng)(即對(duì)線(xiàn)性霍爾元件加入一個(gè)固定不變的磁場(chǎng))，使得線(xiàn)性霍爾元件恒流源的電流從零逐漸地向額定電流變化時(shí)(不能過(guò)線(xiàn)性霍爾元件的額定電流)，這時(shí)線(xiàn)性霍爾元件的輸出電壓也從小逐漸地向大變?nèi)A，這說(shuō)時(shí)該線(xiàn)性霍爾元件是好的，如果線(xiàn)性霍爾元件恒流的電流從零逐漸地向額定電流變化時(shí)，這時(shí)該線(xiàn)性霍爾元件的電壓保持不變，這說(shuō)明該線(xiàn)性霍爾元件已損壞。

二、單極開(kāi)關(guān)型霍爾元件的好壞測(cè)量

將單極開(kāi)關(guān)霍爾元件通電5V，輸出端串聯(lián)電阻，當(dāng)磁鐵遠(yuǎn)離開(kāi)關(guān)霍爾元件時(shí)，開(kāi)關(guān)霍爾元件的輸出電壓為高電平(+5V)，當(dāng)磁鐵靠近開(kāi)關(guān)霍樂(lè)元件時(shí)，開(kāi)關(guān)霍爾元件的輸出電壓為低電平(+0.2V左右)，這說(shuō)明該開(kāi)關(guān)開(kāi)型霍爾元件是好的。如果不認(rèn)靠近或離開(kāi)霍爾開(kāi)關(guān)，該霍爾開(kāi)關(guān)的輸出電平保持不變，則說(shuō)明該霍爾開(kāi)關(guān)已損壞。

三、雙極鎖存霍爾開(kāi)關(guān)元件的好壞測(cè)量

當(dāng)磁鐵N極或S極靠近霍爾開(kāi)關(guān)，輸出是高電平或低電平，然后拿開(kāi)霍爾元件，電平保持不變，再用剛才相反的磁極得到與剛剛相反的電平，這時(shí)說(shuō)明霍爾元件是好的，如果當(dāng)霍爾元件靠近得到的電平，在磁鐵離開(kāi)后不鎖存，說(shuō)明霍爾是壞的，當(dāng)磁鐵用相反的極性靠近霍爾，得不到與另一個(gè)極性靠近霍爾所得出相反的電平，那么這個(gè)霍爾開(kāi)關(guān)也是壞的。

以上是創(chuàng)芯檢測(cè)小編整理的霍爾傳感器好壞檢測(cè)相關(guān)內(nèi)容，希望對(duì)您有所幫助。深圳創(chuàng)芯在線(xiàn)檢測(cè)技術(shù)有限公司是國(guó)內(nèi)知名的電子元器件專(zhuān)業(yè)檢測(cè)機(jī)構(gòu)，建有標(biāo)準(zhǔn)化實(shí)驗(yàn)室3個(gè)，實(shí)驗(yàn)室面積1000平米以上。檢測(cè)服務(wù)范圍涵蓋：電子元器件測(cè)試驗(yàn)證、IC真假鑒別，產(chǎn)品設(shè)計(jì)選料、失效分析，功能檢測(cè)、工廠(chǎng)來(lái)料檢驗(yàn)、元器件X-Ray檢測(cè)以及編帶等多種測(cè)試項(xiàng)目。