芯片研發(fā)和制造是很重要的高科技技術(shù)之一,通過芯片技術(shù)的變化,電子產(chǎn)品的技術(shù)含量得到了提高。然而,芯片封裝后,肉眼無法檢查其內(nèi)部結(jié)構(gòu)。對于如此精密的產(chǎn)品,往往會出現(xiàn)偽劣的缺陷。那么,x-ray技術(shù)能夠鑒別真假芯片嗎?為幫助大家更好的理解,本文將對ic芯片缺陷檢測予以匯總。
x-ray技術(shù)檢測技術(shù)可以分為質(zhì)量檢測、厚度測量、物品檢驗、動態(tài)研究四大類應(yīng)用。品質(zhì)檢驗在鑄造、焊接過程缺陷檢測、工業(yè)、鋰電池、電子半導體等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。測厚儀可用于在線、實時、非接觸厚度測量。貨物檢驗可用于機場、車站、海關(guān)查驗、結(jié)構(gòu)尺寸確定。動態(tài)學可以用來研究彈道、爆炸、核技術(shù)和鑄造技術(shù)等動態(tài)過程。
X-RAY不僅可以對不可見的芯片焊點或斷裂瑕疵等進行檢測,還能對檢測結(jié)果進行定性分析。一般的電子元器件等產(chǎn)品都可以檢測。
一個晶圓上有成百上千個芯片,晶圓生產(chǎn)好后要經(jīng)過測試并把不好的標記上;通過測試的晶圓被切割并封裝,封裝好后就是我們看到的帶管腳的芯片了,在封裝階段標記為不好的芯片同樣會被丟棄。未通過測試的晶片由買裸片的廠家回收,自己切割、綁定,但標記為不好的芯片也會被丟棄。
通常正規(guī)的測試流程費時、成本高,所以有些晶圓廠會把未經(jīng)過測試的晶圓賣給需要裸片的廠家,并由后者自己測試。但后者通常沒有好的測試設(shè)備,同時為省錢減少測試項目,致使一些本來在半導體廠不能通過的芯片用在了最終的產(chǎn)品中,造成產(chǎn)品質(zhì)量的不穩(wěn)定。
x-ray技術(shù)檢測不會損壞被檢測對象,方便實用,可實現(xiàn)其它檢測手段所不能達到的獨特檢測效果。隨著x-ray技術(shù)的發(fā)現(xiàn)、應(yīng)用與發(fā)展,在各個行業(yè)領(lǐng)域,基本上都可以看到X-RAY檢測的大量運用。此外,X-ray還能夠?qū)λ苣z材料及零部件、電子組件、LED元件等內(nèi)部的裂紋、異物的缺陷進行檢測,BGA、線路板等內(nèi)部位移分析;判別空焊,虛焊等BGA焊接缺陷,微電子系統(tǒng)和膠封元件,電纜,裝具,塑料件內(nèi)部情況。
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