相信從事電子業(yè)的朋友都聽說過所謂的“美軍標(biāo)”，沒錯(cuò)，它的原名叫做《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》（MIL-STD-883），從1968年問世以來，美軍標(biāo)不斷發(fā)展和完善，被公認(rèn)為全球微電子器件質(zhì)量監(jiān)管的領(lǐng)先體系。
美軍標(biāo)囊括了一系列試驗(yàn)方法，涉及微電子器件的來料檢驗(yàn)和控制、設(shè)計(jì)檢驗(yàn)和控制、工藝檢驗(yàn)和控制、篩選、鑒定和質(zhì)量一致性檢驗(yàn)等各個(gè)方面。該標(biāo)準(zhǔn)最早應(yīng)用于軍用器件，但由于其測試內(nèi)容全面細(xì)致，并緊密貼合微電子器件的實(shí)際應(yīng)用，后來也被民用領(lǐng)域采納。不僅如此，世界各國高可靠微電子器件的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)無不以美軍標(biāo)為藍(lán)本，例如我國的GJB548A-96就是以1991年MIL-STD-883的D版為藍(lán)本所制定。
背景信息介紹了這么多，那么美軍標(biāo)實(shí)際用于測試的流程是怎樣的呢？我們將以客戶提供的一枚SN74LVC1G08DBVR為實(shí)例，給大家分享下美軍標(biāo)測試的流程。
通過查閱官網(wǎng)規(guī)格書可知，SN74LVC1G08DBVR屬于單路雙輸入正與門芯片，工作電壓范圍在1.65V至5.5V。
一般的邏輯門芯片，主要參數(shù)為輸入高/低電平電流、輸入高/低電平電壓，輸出高/低電平電壓、電源電流以及相關(guān)的時(shí)間參數(shù)等。美軍標(biāo)最新版本MIL-STD-883L中對以上部分參數(shù)測試方法都有說明，但由于篇幅有限，今天我們主要分享輸出高/低電壓參數(shù)的測試方法。
美軍標(biāo)MIL-STD-883L METHOD 3006.1輸出高電平電壓參數(shù)測試方法如下：
以上內(nèi)容可概括如下：
1. 說明建立此標(biāo)準(zhǔn)的目的及可適用微電子元器件的類型。
2. 測試設(shè)備及試驗(yàn)溫度適應(yīng)性要求。
3. 測試過程應(yīng)在最壞的條件（最壞情況的電源電壓和最壞情況的輸入水平）下進(jìn)行測試。
4. 報(bào)告內(nèi)容應(yīng)包含測試溫度、輸入/輸出電流、電源電壓、輸入電壓、輸出電壓最小/最大值等。
綜上可知，美軍標(biāo)對輸出高電平電壓參數(shù)的測試方法僅對測試設(shè)備及測試條件作出適應(yīng)性要求，并要求在極限條件下測試。至于具體的測試條件，還要參照元器件規(guī)格書的要求。
搭建如下測試電路：
測試步驟：
1. 將被測集成電路（芯片）按規(guī)定接到測試電路中。
2. 對測試電路施加最極限的電源電壓和輸入電壓（包括保證的噪聲容限）。
3. 強(qiáng)制電流（等于電路最壞情況下的高電平扇出）施加到測試電路輸出端子。
4. 溫度調(diào)整到規(guī)定值,并在測試前后立即檢査。
5. 測試輸出端電壓。
備注：每次輸入條件確定后，進(jìn)行輸出測量。
從官網(wǎng)提供的規(guī)格書可知，輸出高電平電壓（VOH）參數(shù)在不同的電源條件、電流條件及溫度條件下的參數(shù)要求范圍是不一樣的。現(xiàn)在用功能測試機(jī)臺TR6850在常溫（25℃）下測試當(dāng)電源電壓為某一值，按規(guī)格書要求在輸入端（A端和B端）施加極限值電壓信號，并在輸出端（Y端）施加對應(yīng)的電流值，測試其輸出高電平電壓（VOH）是否符合規(guī)格書要求。
規(guī)格書參數(shù)要求如下：
按照規(guī)格書要求設(shè)定測試條件；
-VOH = 1.55V Min @ VCC = 1.65V, IOH = -100μA, VIH(A&B) = 1.0725V
-VOH = 5.40V Min @ VCC = 5.5V, IOH = -100μA, VIH(A&B) = 3.85V
-VOH =1.2V Min @ VCC = 1.65V, IOH = -4mA, VIH(A&B) = 1.0725V
-VOH = 1.9V Min @ VCC = 2.3V, IOH = -8mA, VIH(A&B) = 1.7V
-VOH = 2.4V Min @ VCC = 3V, IOH = -16mA, VIH(A&B) = 2V
-VOH = 2.3V Min @ VCC = 3V, IOH = -24mA, VIH(A&B) = 2V
-VOH = 3.8V Min @ VCC = 4.5V, IOH = -32mA, VIH(A&B) = 3.15V
編寫測試程序，完成調(diào)試，測試界面如下：
測試結(jié)果如下：
從測試結(jié)果圖片可以看到，輸出高電平電壓（VOH）均符合規(guī)格書要求，因此這枚SN74LVC1G08DBVR的VOH在美軍標(biāo)測試之下屬于合格。
分享到這里相信大家對如何用美軍標(biāo)測試芯片功能參數(shù)已經(jīng)有了初步的了解，那么輸出低電平電壓（VOL）又該如何測試？其實(shí)測試方法跟輸出高電平電壓（VOH）大同小異，在這里也就不占用篇幅過多敘述，對此感興趣的小伙伴可以關(guān)注創(chuàng)芯檢測公眾號，我們還將分享更多元器件測試的案例。
創(chuàng)芯在線檢測中心作為專業(yè)檢測機(jī)構(gòu)，不僅支持美軍標(biāo)最新版本的檢測標(biāo)準(zhǔn)，還支持AS681標(biāo)準(zhǔn)以及IDEA-STD-1010-B標(biāo)準(zhǔn)等國際檢測標(biāo)準(zhǔn)，檢測項(xiàng)目涵蓋外觀測試、電特性測試、可焊性測試、X-ray測試以及ROHS測試等十幾個(gè)檢測項(xiàng)目。同時(shí)，為滿足更多檢測需求，我們還在不斷擴(kuò)展更多測試項(xiàng)目以及擴(kuò)建更大的專業(yè)實(shí)驗(yàn)室，歡迎大家積極咨和送檢！
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